[发明专利]多芯片封装结构、多芯片封装结构的制造方法在审
申请号: | 202211194240.0 | 申请日: | 2022-09-28 |
公开(公告)号: | CN115863310A | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
发明(设计)人: | 李德建;韩顺枫;关媛;李博夫;李大猛;杨宝斌;何慧敏;刘丰满 | 申请(专利权)人: | 北京智芯微电子科技有限公司;国网江苏省电力有限公司;国家电网有限公司 |
主分类号: | H01L23/535 | 分类号: | H01L23/535;H01L25/00;H01L23/31;H01L21/50;H01L21/56;H01L21/60 |
代理公司: | 北京智信四方知识产权代理有限公司 11519 | 代理人: | 刘真 |
地址: | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开涉及半导体技术领域,具体涉及一种多芯片封装结构、多芯片封装结构的制造方法,所述多芯片封装结构包括:第一芯片单元、第二芯片单元、基板以及互联桥;基板,位于第一芯片单元和第二芯片单元的下方,与第一芯片单元和第二芯片单元连接;互联桥,位于第一芯片单元和第二芯片单元的上方,互联桥的一端与第一芯片单元电连接,互联桥的另一端与所述第二芯片单元电连接。该多芯片封装结构无需在基板上挖腔以嵌入硅桥,可以通过设置在两个芯片单元的上表面的互联桥,以电连接两个芯片单元,实现多个芯片的互连,从而使得多芯片封装结构的制造工艺的难度降低,进而降低了该多芯片封装结构的制造成本。 | ||
搜索关键词: | 芯片 封装 结构 制造 方法 | ||
【主权项】:
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