[发明专利]多芯片封装结构、多芯片封装结构的制造方法在审

专利信息
申请号: 202211194240.0 申请日: 2022-09-28
公开(公告)号: CN115863310A 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 李德建;韩顺枫;关媛;李博夫;李大猛;杨宝斌;何慧敏;刘丰满 申请(专利权)人: 北京智芯微电子科技有限公司;国网江苏省电力有限公司;国家电网有限公司
主分类号: H01L23/535 分类号: H01L23/535;H01L25/00;H01L23/31;H01L21/50;H01L21/56;H01L21/60
代理公司: 北京智信四方知识产权代理有限公司 11519 代理人: 刘真
地址: 100192 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开涉及半导体技术领域,具体涉及一种多芯片封装结构、多芯片封装结构的制造方法,所述多芯片封装结构包括:第一芯片单元、第二芯片单元、基板以及互联桥;基板,位于第一芯片单元和第二芯片单元的下方,与第一芯片单元和第二芯片单元连接;互联桥,位于第一芯片单元和第二芯片单元的上方,互联桥的一端与第一芯片单元电连接,互联桥的另一端与所述第二芯片单元电连接。该多芯片封装结构无需在基板上挖腔以嵌入硅桥,可以通过设置在两个芯片单元的上表面的互联桥,以电连接两个芯片单元,实现多个芯片的互连,从而使得多芯片封装结构的制造工艺的难度降低,进而降低了该多芯片封装结构的制造成本。
搜索关键词: 芯片 封装 结构 制造 方法
【主权项】:
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