[发明专利]一种缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质在审
| 申请号： | 202210915080.8 | 申请日： | 2022-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN115272249A | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 徐尚;聂强;林愉欢;刘永;汪铖杰;吴永坚 | 申请（专利权）人： | 腾讯科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/62;G06V10/22;G06V10/764;G06V10/80;G06V10/82;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 李玉婷 |
| 地址： | 518057 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请实施例公开了一种缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质；本申请实施例可应用于工业检测、人工智能等各种场景。本申请实施例可以获取电子元器件的至少一个元器件图像和元器件图像对应的拍摄角度信息；对元器件图像进行缺陷区域检测，得到元器件图像中的缺陷区域；对缺陷区域进行缺陷信息识别，得到缺陷区域对应的缺陷信息；结合元器件图像对应的拍摄角度信息，对电子元器件的元器件图像对应的缺陷信息在多个不同维度进行信息过滤处理，得到过滤后缺陷信息；根据过滤后缺陷信息对电子元器件进行判别，得到电子元器件的缺陷检测结果。通过本申请实施例，可以有效地降低缺陷检测的过杀率和漏检率，提高缺陷检测的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 检测 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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