[发明专利]绝缘体上覆半导体晶圆、含晶体管的半导体结构及其形成与操作方法在审

专利信息
申请号: 202210655893.8 申请日: 2017-08-08
公开(公告)号: CN115020427A 公开(公告)日: 2022-09-06
发明(设计)人: 史帝芬·费拉候史奇;拉夫·尹葛恩 申请(专利权)人: 格芯(美国)集成电路科技有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/762;H01L29/78
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及绝缘体上覆半导体晶圆、含晶体管的半导体结构及其形成与操作方法,绝缘体上覆半导体晶圆包括支撑基材、位在该支撑基材上方的电性绝缘层、及位在该电性绝缘层上方的半导体层。半导体结构包括晶体管。该晶体管包括在支撑基材上方含有压电材料的电性绝缘层、位在该电性绝缘层上方的半导体层、位在该半导体层中的源极区、通道区与漏极区、位在该通道区上方的栅极结构、第一电极、以及第二电极。该第一电极与该第二电极设于该电性绝缘层的侧向对立侧。该第一电极及第二电极电性绝缘该半导体层,并且经组配用于对该电性绝缘层的该压电材料施加电压。该压电材料回应于对其施加的该电压而至少在该通道区中产生应变。
搜索关键词: 绝缘体 半导体 晶体管 结构 及其 形成 操作方法
【主权项】:
暂无信息
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