[发明专利]缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质在审
申请号: | 202210291632.2 | 申请日: | 2022-03-23 |
公开(公告)号: | CN114627092A | 公开(公告)日: | 2022-06-14 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 广东利元亨智能装备股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/62;G06T7/70 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 蒋姗 |
地址: | 516057 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请提供了一种缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质,包括:对待处理图像进行待检测物轮廓提取,得到待检测物的缺陷图;对所述缺陷图进行缺陷轮廓提取,以获得待检测物的缺陷面积;将所述缺陷面积与第一面积阈值比较,当所述缺陷面积大于所述第一面积阈值,确定所述待检测物存在缺陷。本申请通过对待检测物的图像进行轮廓提取,可以获取待检测物本体轮廓和缺陷轮廓,再进一步对该缺陷轮廓进行轮廓提取,获得缺陷的轮廓面积,将缺陷的轮廓面积与设定好的面积阈值进行对比后,便可以确定出待检测物存在缺陷。以此实现对目标物品的缺陷检测,减少了人为检测的工作强度,同时与人为检测相比不受主观情绪的影响,还增强了检测的准确性。 | ||
搜索关键词: | 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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