[发明专利]缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：

对待处理图像进行待检测物轮廓提取，得到待检测物的缺陷图；

对所述缺陷图进行缺陷轮廓提取，以获得待检测物的缺陷面积；

将所述缺陷面积与第一面积阈值比较，当所述缺陷面积大于所述第一面积阈值，确定所述待检测物存在缺陷。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对待处理图像进行待检测物轮廓提取，得到缺陷图，包括：

将所述待处理图像进行二值化处理，获得二值化图像；

获取所述二值化图像中待检测物的有效轮廓，所述待检测物的有效轮廓为待检测物的轮廓中满足预设条件的轮廓；

从所述有效轮廓中提取目标图像；

根据设定算法对所述目标图像进行卷积计算，以得到待检测物的缺陷图。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述二值化图像中待检测物的有效轮廓，包括：

提取所述二值化图像中待检测物的轮廓集，所述待检测物的轮廓集中包括待检测物的一个或多个轮廓；

剔除所述待检测物的轮廓集中不满足预设条件的待检测物的轮廓，获得待检测物的有效轮廓。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述从所述有效轮廓中提取目标图像，包括：

将所述待检测物的有效轮廓拟合为第一目标图形；

将所述第一目标图形的坐标以所述待处理图像坐标进行映射，得到第二目标图形；

对所述第二目标图形进行截图处理，得到目标图像。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述二值化图像中待检测物的有效轮廓，包括：

对所述二值化图像进行轮廓提取，获取待检测物整体轮廓；

根据所述待检测物整体轮廓获取待处理图像的粗区域图像；

获取待处理图像的粗区域图像中待检测物的有效轮廓。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述二值化图像包括第一目标区域二值化图像，所述待检测物整体轮廓包括第一目标区域整体轮廓，所述待处理图像的粗区域图像包括第一目标区域的粗区域图像，所述根据所述待检测物整体轮廓获取待处理图像的粗区域图像，包括：

对第一目标区域二值化图像进行轮廓提取，获取第一目标区域整体轮廓；

将所述第一目标区域整体轮廓拟合为第三目标图形；

按照设定规则对所述第三目标图形进行扩展，得到第一目标区域的粗区域二值化图像；

根据所述第一目标区域的粗区域二值化图像截取第一目标区域的粗区域图像。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述二值化图像包括第二目标区域二值化图像，所述待检测物整体轮廓包括第二目标区域整体轮廓，所述待处理图像的粗区域图像包括第二目标区域的粗区域图像，所述根据所述待检测物整体轮廓获取待处理图像的粗区域图像，包括：

将所述第一目标区域的粗区域二值化图像与待检测物整体图像进行异或处理，以得到第二目标区域粗区域图像。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷面积包括位于所述待处理图像的第一目标区域的一个或多个第一缺陷面积和位于所述待处理图像的第二目标区域的一个或多个第二缺陷面积，所述将所述缺陷面积与第一面积阈值比较，当所述缺陷面积大于所述第一面积阈值，确定所述待检测物存在缺陷，包括：

将一个或多个所述第一缺陷面积与所述第一面积阈值比较；

将一个或多个所述第二缺陷面积与所述第一面积阈值比较；

若存在所述第一缺陷面积大于所述第一面积阈值，或存在所述第二缺陷面积大于所述第一面积阈值时，则表征所述待检测物存在缺陷。