[发明专利]缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质

说明书

本申请提供了一种缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质，包括：对待处理图像进行待检测物轮廓提取，得到待检测物的缺陷图；对所述缺陷图进行缺陷轮廓提取，以获得待检测物的缺陷面积；将所述缺陷面积与第一面积阈值比较，当所述缺陷面积大于所述第一面积阈值，确定所述待检测物存在缺陷。本申请通过对待检测物的图像进行轮廓提取，可以获取待检测物本体轮廓和缺陷轮廓，再进一步对该缺陷轮廓进行轮廓提取，获得缺陷的轮廓面积，将缺陷的轮廓面积与设定好的面积阈值进行对比后，便可以确定出待检测物存在缺陷。以此实现对目标物品的缺陷检测，减少了人为检测的工作强度，同时与人为检测相比不受主观情绪的影响，还增强了检测的准确性。

技术领域

本申请涉及质量检测领域，具体而言，涉及一种缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质。

背景技术

随着智能化与电子化发展，模切材料应用和发展也得到了快速发展。基于模切模块的快速发展以及模切材料在各个领域逐渐占领重要作用，模切材料的检测变得十分重要，模块材料检测的准确性要求也越来越高。但是，目前模切材料的检测主要还是基于人工检测，受主观因素的影响较大。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例的目的在于提供一种缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质。能够通过待处理图像进行处理以实现对模切材料的检测。

第一方面，本申请实施例提供了一种缺陷检测方法，包括：对待处理图像进行待检测物轮廓提取，得到待检测物的缺陷图；对所述缺陷图进行缺陷轮廓提取，以获得待检测物的缺陷面积；将所述缺陷面积与第一面积阈值比较，当所述缺陷面积大于所述第一面积阈值，确定所述待检测物存在缺陷。

在上述实现过程中，通过对待处理图像进行轮廓提取，可以获得待检测物本体和缺陷的轮廓，进而得到缺陷图。再在缺陷图的基础上进一步提取缺陷的轮廓并得到缺陷的轮廓面积，将缺陷的轮廓面积与第一面积阈值进行比较，当缺陷的轮廓面积大于第一面积阈值时，确定出该待检测物存在缺陷。由于在对待检测物的轮廓确定是和设定的面积阈值比较的，一方面可以有效的检测出较大缺陷，另一方面能够忽略较小的缺陷，实现了精准、有效的缺陷识别。且本缺陷识别的整个过程是基于待检测物的图像进行处理的，所以实现了检测自动化，提高了检测效率，降低了工作人员的工作强度。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中：所述对待处理图像进行待检测物轮廓提取，得到缺陷图，包括：将所述待处理图像进行二值化处理，获得二值化图像；获取所述二值化图像中待检测物的有效轮廓，所述待检测物的有效轮廓为待检测物的轮廓中满足预设条件的轮廓；从所述有效轮廓中提取目标图像；根据设定算法对所述目标图像进行卷积计算，以得到待检测物的缺陷图。

在上述实现过程中，通过将待处理图像进行二值化处理，得到可以反应图像整体和局部特征的二值化图像，不再涉及像素的多极值，使处理变得简单。同时，对轮廓设置条件，选择满足条件的轮廓作为有效轮廓，排除了一些干扰性轮廓，保证了轮廓获取的准确性。进而通过该有效轮廓提取的目标图像，对目标图像进行卷积计算得到的缺陷图也更加精确，提高了获取缺陷的准确率。

结合第一方面的第一种可能的实施方式，本申请实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中：所述获取所述二值化图像中待检测物的有效轮廓，包括：提取所述二值化图像中待检测物的轮廓集，所述待检测物的轮廓集中包括待检测物的一个或多个轮廓；剔除所述待检测物的轮廓集中不满足预设条件的待检测物的轮廓，获得待检测物的有效轮廓。

在上述实现过程中，在实际轮廓提取过程中，可能会提取到一些非待检测物本体的一些轮廓，通过将图像中的各个轮廓面积与设定的预设条件进行比较，轮廓面积小于该预设条件的轮廓视为干扰轮廓(也就是非待检测物本体的轮廓)。通过将干扰轮廓剔除，便可以得到实际待检测物的有效轮廓，这样可以更加有针对性的进行进一步处理，简化了处理对象，提高了工作效率。