[发明专利]倒片装置、半导体工艺设备及开关门体的控制方法在审
申请号: | 202210181637.X | 申请日: | 2022-02-25 |
公开(公告)号: | CN114551313A | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 苏冠华;陈志兵;李旭刚;刘爱旭 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 周永强 |
地址: | 100176 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请公开了一种倒片装置、半导体工艺设备及开关门体的控制方法,涉及半导体装备领域。一种倒片装置包括腔体、门体、驱动机构、运动轨道和阻尼机构;腔体设有开口;门体可翻转地设于开口处,门体与腔体转动连接;驱动机构可转动连接于腔体,驱动机构包括伺服驱动组件和第一连接件,第一连接件用于将伺服驱动组件与门体转动连接,伺服驱动组件通过第一连接件驱动门体相对于腔体翻转;阻尼机构连接门体与腔体,阻尼机构用于施加使门体向远离开口的方向翻转的阻力。一种半导体工艺设备,包括上述倒片装置。一种开关门体的控制方法,应用于上述半导体工艺设备。本申请至少能够解决翻转门无法平稳运动影响片盒中晶片位置精度的问题。 | ||
搜索关键词: | 装置 半导体 工艺设备 开关 控制 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造