[发明专利]集成电路装置及其制造方法及位元单元阵列在审
| 申请号： | 202210107828.1 | 申请日： | 2022-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN114975451A | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 刘相玮;杨詠傑;杨耀仁 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L27/112 | 分类号： | H01L27/112 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 徐金国 |
| 地址： | 中国台湾新竹市*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种集成电路装置及其制造方法及位元单元阵列，集成电路(integrated circuit，IC)装置包括晶体管及可程序化结构区域。晶体管区域包括用以接收参考电压的源极结构、漏极结构的第一部分、及在源极结构与漏极结构的第一部分之间定位并且用以接收启用信号的栅电极。可程序化结构区域包括漏极结构的第二部分、用以接收操作电压的第一信号线、第二信号线、在第一信号线下面并且电性连接到第一信号线的栅极通孔、及在漏极结构的第二部分与第二信号线之间定位并且电性连接到漏极结构的第二部分及第二信号线的漏极通孔。第一信号线包括栅极通孔位置的部分及第二信号线包括漏极通孔位置的部分在IC装置的相同金属层中平行定位。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 装置 及其 制造 方法 位元 单元 阵列 | ||
【主权项】：
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的；包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的；包括有热磁组件的
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
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