[发明专利]半导体工艺用抛光组合物、抛光组合物的制备方法以及适用抛光组合物的半导体器件的制造方法在审

专利信息
申请号: 202180083214.8 申请日: 2021-10-18
公开(公告)号: CN116568772A 公开(公告)日: 2023-08-08
发明(设计)人: 朴韩址;韩德洙;权璋国;洪承哲 申请(专利权)人: SK恩普士有限公司
主分类号: C09K3/14 分类号: C09K3/14
代理公司: 成都超凡明远知识产权代理有限公司 51258 代理人: 宋东颖
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及半导体工艺用抛光组合物、抛光组合物的制备方法以及适用抛光用组合物的半导体器件的制造方法,其中,就包含抛光颗粒、加速剂和稳定剂的本发明的抛光组合物而言,将抛光组合物在60℃以上长时间储存后,粒子间也不会发生凝集现象,故长时间储存稳定性优异;并且作为应用于非晶质碳膜(Amorphous carbon layer)的抛光工艺中的抛光组合物,能够表现出高抛光率,还能防止抛光工艺中产生的碳残留物(Carbon residue)吸附在半导体基板上,并能防止抛光垫的污染。此外,本发明还能够提供一种适用半导体工艺用抛光组合物的半导体器件的制造方法。
搜索关键词: 半导体 工艺 抛光 组合 制备 方法 以及 适用 半导体器件 制造
【主权项】:
暂无信息
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