[发明专利]一种半导体结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202111673423.6 申请日: 2021-12-31
公开(公告)号: CN114300529A 公开(公告)日: 2022-04-08
发明(设计)人: 张清纯;史文华;李敏 申请(专利权)人: 清纯半导体(上海)有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/739;H01L29/786;H01L29/872;H01L21/329;H01L21/331;H01L21/336
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 薛异荣
地址: 200441 上海市宝山区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种半导体结构及其制备方法,半导体结构包括:半导体衬底层;位于所述半导体衬底层上的漂移层;位于所述漂移层中的横向电流扩展层,所述横向电流扩展层的导电类型与所述漂移层的导电类型相同,所述横向电流扩展层的掺杂浓度大于所述漂移层的掺杂浓度;位于所述漂移层中顶部区域的有源掺杂区,所述有源掺杂区至少位于部分横向电流扩展层的上方,所述有源掺杂区的导电类型与所述漂移层的导电类型相反。所述半导体结构的正向导通电阻降低。
搜索关键词: 一种 半导体 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
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