[发明专利]一种存储器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202111583992.1 申请日: 2021-12-22
公开(公告)号: CN116367552A 公开(公告)日: 2023-06-30
发明(设计)人: 于志猛;申力杰;杨丹丹;何世坤 申请(专利权)人: 浙江驰拓科技有限公司
主分类号: H10B61/00 分类号: H10B61/00;H10N50/01;H10N50/10
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 薛晨光
地址: 311300 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本申请公开了一种存储器,包括底电路层;设于底电路层上表面的底电极;设于底电极四周的氧化层;设于底电极上表面、由下至上层叠的存储单元层、金属硬掩膜层;设于金属硬掩膜层上表面的顶电路层。本申请中的存储器在底电极的四周设置有氧化层,即底电极侧侧壁被完全氧化,在存储单元层刻蚀过程中减少因反溅射而出现短路的状况,提升存储器的性能和良率,且由于底电极关键尺寸较大,嵌套精度卡控更为宽松且使得底电极图形化工艺实现难度显著降低;氧化层的厚度可控,可以根据存储单元层的尺寸进行调节,兼容不同尺寸的存储单元。本申请还提供一种制备方法。
搜索关键词: 一种 存储器 及其 制备 方法
【主权项】:
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