[发明专利]暗场图形的辅助图形及其设计方法在审
申请号: | 202110719160.1 | 申请日: | 2021-06-28 |
公开(公告)号: | CN113534600A | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 王雷 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | G03F1/38 | 分类号: | G03F1/38 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本申请公开了一种暗场图形的辅助图形及其设计方法,该暗场图形为曝光透过的区域,该暗场图形是目标器件的图形,该暗场图形的密度占比在目标器件的图形中小于40%。本申请通过在暗场图形的内部增加辅助图形,从而提高了暗场图形的通光量,实现了不通过负显影技术制造小尺寸的器件,解决了相关技术中通过负显影技术制造小尺寸的器件所导致的生产成本较高的问题,在一定程度上降低了生产成本,提高了产出率。 | ||
搜索关键词: | 暗场 图形 辅助 及其 设计 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
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G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备