[发明专利]一种形成半导体图案的方法及半导体器件的制造方法在审
申请号: | 202110205893.3 | 申请日: | 2021-02-24 |
公开(公告)号: | CN114975107A | 公开(公告)日: | 2022-08-30 |
发明(设计)人: | 刘智龙;李大烨;贺晓彬;刘金彪;杨涛;李亭亭 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所;真芯(北京)半导体有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/308 | 分类号: | H01L21/308;H01L21/311;H01L21/3213 |
代理公司: | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人: | 刘贺秋 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开具体可提供一种形成半导体图案的方法及半导体器件的制造方法。形成半导体图案的方法可以包括但不限于如下的步骤:提供半导体衬底,并在该半导体衬底上形成第一膜层。在第一膜层上形成牺牲层,在牺牲层上形成第一图案。在牺牲层内形成第二图案,其中第二图案与第一图案组成目标图案,然后将该目标图案转移到第一膜层上。半导体器件的制造方法包括但不限于本公开形成半导体图案的方法。本公开能够在已生成的图案基础上生成新的图案,已生成的图案与新的图案共同组成最终的图案,从而能够解决现有间距倍增技术无法适用于某些特殊图形的问题。本公开容易实现间距倍增的技术效果,能够较好地形成具有小间距的复杂半导体图案,适用范围较广。 | ||
搜索关键词: | 一种 形成 半导体 图案 方法 半导体器件 制造 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造