[发明专利]开关元件、半导体存储器装置及其制造方法在审
申请号: | 202110189253.8 | 申请日: | 2021-02-19 |
公开(公告)号: | CN113345956A | 公开(公告)日: | 2021-09-03 |
发明(设计)人: | 李东旭;梁海昌 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L21/28;H01L27/11568;H01L27/11578;H01L27/1159;H01L27/11597 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 刘久亮;黄纶伟 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本申请涉及开关元件、半导体存储器装置及其制造方法。一种开关元件包括:第一栅极介电层,其形成在基板上方;第二栅极介电层,其形成在第一栅极介电层上方以与第一栅极介电层的一部分交叠,并且包括铁电材料;第二栅电极,其形成在第二栅极介电层上方;以及第一栅电极,其位于第一栅极介电层和第二栅极介电层之间,并且被配置为控制第二栅极介电层选择性地具有负电容。 | ||
搜索关键词: | 开关 元件 半导体 存储器 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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