[发明专利]三维半导体装置及其制造方法在审
申请号: | 202010836465.6 | 申请日: | 2020-08-19 |
公开(公告)号: | CN112420723A | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 金成吉;金成珍;金智美;金廷奂;金赞炯 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L27/11563 | 分类号: | H01L27/11563;H01L27/11568;H01L27/11578 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 赵南;张帆 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种三维半导体装置,包括:导电层,其位于衬底上并且包括第一导电类型的杂质;基体层,其位于导电层上;堆叠件,其包括下绝缘膜以及位于下绝缘膜上的栅电极和模制绝缘层,其中,基体层包括高介电材料;竖直结构,其包括穿过堆叠结构的竖直沟道层和设置在竖直沟道层与多个栅电极之间的竖直绝缘层,竖直结构在绝缘基体层中具有在宽度方向上延伸的延伸区域;以及隔离结构,其穿过堆叠结构、绝缘基体层和导电层,并且在与衬底的上表面平行的方向上延伸,其中,导电层具有延伸部分,延伸部分在竖直结构的延伸区域中沿着竖直沟道层的表面延伸。 | ||
搜索关键词: | 三维 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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