[发明专利]高密度电容器件及其制作方法有效
申请号: | 202010594502.7 | 申请日: | 2020-06-28 |
公开(公告)号: | CN111653545B | 公开(公告)日: | 2022-04-05 |
发明(设计)人: | 刘俊文 | 申请(专利权)人: | 华虹半导体(无锡)有限公司 |
主分类号: | H01L23/522 | 分类号: | H01L23/522;H01L49/02 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 214028 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请涉及半导体集成电路制造领域,具体涉及一种高密度电容器件及其制作方法。其中器件包括介质层,包括多层依次层叠的子介质层;第一金属电极板和第二金属电极板,第一金属电极板包括至少一个第一电极臂,第二金属电极板包括至少一个第二电极臂;第一电极臂和第二电极臂均包括多段在纵向上依次接触的子电极臂,每段子电极臂对应设于子介质层中,子电极臂从其各自所在的子介质层的上表面向下延伸;相邻子介质层之间通过互连金属形成互连。该方法通过已有下层金属电极板和互连金属,充分利用双大马士革工艺,通过设计孔层图形制作较高密度的电容器件。 | ||
搜索关键词: | 高密度 电容 器件 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华虹半导体(无锡)有限公司,未经华虹半导体(无锡)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010594502.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。