[发明专利]具有环绕式栅极以及环绕式源极和漏极触点的平面晶体管在审

专利信息
申请号: 202010078838.8 申请日: 2020-02-03
公开(公告)号: CN111640741A 公开(公告)日: 2020-09-08
发明(设计)人: N.尼迪;R.拉马斯瓦米;邓汉威;M.拉多萨夫尔杰维奇;S.达斯古普塔;J.C.罗德;P.B.费希尔;W.M.哈菲斯 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: H01L27/085 分类号: H01L27/085;H01L29/778;H01L29/423;H01L21/8252
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 徐予红;陈岚
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的主题是“具有环绕式栅极以及环绕式源极和漏极触点的平面晶体管”。本文中所公开的是IC结构、封装和装置,所述IC结构、封装和装置包含具有环绕式栅极和/或一个或多个环绕式源极/漏极(S/D)触点的平面III‑N晶体管。一种示例IC结构包含支承结构(例如衬底)和平面III‑N晶体管。晶体管包含:在支承结构之上提供的III‑N半导体材料和极化材料的沟道堆叠;在沟道堆叠中提供的一对S/D区;以及在S/D区域之间的沟道堆叠的一部分之上提供的栅极介电材料和栅极电极材料的栅极堆叠,其中栅极堆叠至少部分地环绕沟道堆叠的上部。
搜索关键词: 具有 环绕 栅极 以及 式源极 触点 平面 晶体管
【主权项】:
暂无信息
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