[发明专利]半导体器件的扇出型晶圆级封装在审

专利信息
申请号: 201910849864.3 申请日: 2019-09-10
公开(公告)号: CN110970380A 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 张基松;林育聖;G·M·格里弗纳;野间崇 申请(专利权)人: 半导体元件工业有限责任公司
主分类号: H01L23/485 分类号: H01L23/485;H01L23/498;H01L21/60
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 秦晨
地址: 美国亚*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明题为“半导体器件的扇出型晶圆级封装”。在一般方面,本发明提供了一种扇出型晶圆级封装(FOWLP),该FOWLP可以包括:半导体管芯,该半导体管芯具有:有源表面;背侧表面;多个侧表面,该多个侧表面中的每个侧表面在有源表面与背侧表面之间延伸;多个导电凸块,该多个导电凸块设置在有源表面上;以及绝缘层,该绝缘层设置在有源表面在导电凸块之间的第一部分上。FOWLP还可以包括模塑料,该模塑料包封背侧表面、多个侧表面、以及有源表面的在导电凸块与有源表面的周边边缘之间的第二部分。FOWLP还可以包括信号分配结构,该信号分配结构设置在导电凸块、绝缘层以及模塑料上。信号分配结构可以被配置为提供到多个导电凸块的相应电连接件。
搜索关键词: 半导体器件 扇出型晶圆级 封装
【主权项】:
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