[发明专利]物体三维形貌测量方法、系统和计算机可读存储介质有效

专利信息
申请号: 201910535223.0 申请日: 2019-06-20
公开(公告)号: CN111121663B 公开(公告)日: 2022-09-06
发明(设计)人: 李勇;魏一振;张卓鹏 申请(专利权)人: 杭州光粒科技有限公司
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25;G06T7/33;G06T7/42;G06T7/60
代理公司: 杭州华知专利事务所(普通合伙) 33235 代理人: 张德宝
地址: 310012 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供一种物体三维形貌测量方法、系统和计算机可读存储介质,所述方法包括:接收外界阳光,并将其作为测量用的光源;将所述阳光照射在具有预设图案的模板上,以形成对应的阴影图案;将所述阴影图案投影在被测物体上;拍摄被所述阴影图案投影的被测物体,以得到对应的变形图案;采用傅里叶变换轮廓术计算得出所述变形图案上变形条纹的相位;结合所述被测物体的纹理和计算得出的相位进行双目匹配,以获取所述被测物体的三维形貌。本发明采用阳光作为光源以对物体表面形貌进行主动双目三维测量,无需投影成像光学系统,并且只需一个模板或者再加上若干个平面反射镜即可实现野外三维测量任务,整体结构简单,测量成本较低。
搜索关键词: 物体 三维 形貌 测量方法 系统 计算机 可读 存储 介质
【主权项】:
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