[发明专利]物体三维形貌测量方法、系统和计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种物体三维形貌测量方法，其特征在于，包括：

接收外界阳光，并将其作为测量用的光源；

将所述阳光照射在具有预设图案的模板上，以形成对应的阴影图案；将所述阳光照射在具有预设图案的模板上，还包括：通过至少一个反射镜改变外界阳光的照射路线，并使改变后的阳光照射在具有预设图案的模板上；

将所述阴影图案投影在被测物体上；

拍摄被所述阴影图案投影的被测物体，以得到对应的变形图案；

采用傅里叶变换轮廓术计算得出所述变形图案上变形条纹的相位；

结合所述被测物体的纹理和计算得出的相位进行双目匹配，以获取所述被测物体的三维形貌。

2.根据权利要求1所述的物体三维形貌测量方法，其特征在于，将所述阴影图案投影在被测物体上，还包括：

通过至少一个反射镜改变所述阴影图案的投影路线，并使改变后的阴影图案投影在所述被测物体上。

3.根据权利要求1所述的物体三维形貌测量方法，其特征在于，所述预设图案为散斑图案、正弦条纹图案、周期性栅栏图案的一种或几种。

4.根据权利要求1所述的物体三维形貌测量方法，其特征在于，在采用傅里叶变换轮廓术计算得出所述变形图案上变形条纹的相位之后，还包括：

基于所述相位进行双目匹配，计算出所述被测物体的高度分布。

5.一种物体三维形貌测量系统，其特征在于，所述物体三维形貌测量系统包括：存储器及处理器，所述存储器中包括一种物体三维形貌测量方法程序，所述物体三维形貌测量方法程序被所述处理器执行时实现如下步骤：

接收外界阳光，并将其作为测量用的光源；

将所述阳光照射在具有预设图案的模板上，以形成对应的阴影图案；

将所述阴影图案投影在被测物体上；

拍摄被所述阴影图案投影的被测物体，以得到对应的变形图案；

采用傅里叶变换轮廓术计算得出所述变形图案上变形条纹的相位；

结合所述被测物体的纹理和计算得出的相位进行双目匹配，以获取所述被测物体的三维形貌。

6.根据权利要求5所述的物体三维形貌测量系统，其特征在于，将所述阳光照射在具有预设图案的模板上，还包括：

通过至少一个反射镜改变外界阳光的照射路线，并使改变后的阳光照射在具有预设图案的模板上。

7.根据权利要求5所述的物体三维形貌测量系统，其特征在于，将所述阴影图案投影在被测物体上，还包括：

通过至少一个反射镜改变所述阴影图案的投影路线，并使改变后的阴影图案投影在所述被测物体上。

8.根据权利要求5所述的物体三维形貌测量系统，其特征在于，所述预设图案为散斑图案、正弦条纹图案、周期性栅栏图案的一种或几种。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中包括一种物体三维形貌测量方法程序，所述物体三维形貌测量方法程序被处理器执行时，实现如权利要求1至4中任一项所述的一种物体三维形貌测量方法的步骤。