[发明专利]半导体装置及半导体装置的制造方法在审

专利信息
申请号: 201910167490.7 申请日: 2019-03-06
公开(公告)号: CN110970444A 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 赤田裕亮 申请(专利权)人: 东芝存储器株式会社
主分类号: H01L27/11551 分类号: H01L27/11551;H01L27/11578;H01L25/065
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 杨林勳
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 实施方式提供一种能够实现小型、薄型化的半导体装置及半导体装置的制造方法。实施方式的半导体装置具备:衬底,在第1面具有第1端子;以及第1半导体芯片,设置在第1面,且具有第2端子。第1半导体芯片在平行于第1面的方向上离开粘着性树脂而设置。此外,该半导体装置具备将第1端子与第2端子电连接的第1连接材。第1连接材的一部分埋入粘着性树脂中。进而,该半导体装置具备设置在衬底的第1面的第2半导体芯片以及设置在第2半导体芯片与第1面之间的粘着性树脂。
搜索关键词: 半导体 装置 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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