[发明专利]半导体装置中的成形互连凸块在审

专利信息
申请号: 201880070356.9 申请日: 2018-10-04
公开(公告)号: CN111316433A 公开(公告)日: 2020-06-19
发明(设计)人: 斯里尼瓦萨恩·K·科杜里 申请(专利权)人: 德州仪器公司
主分类号: H01L23/52 分类号: H01L23/52;H01L21/768
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 林斯凯
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在一个实例中,一种半导体封装(100)包含引线框架(102)及经由成形或锥形的凸块(106)安装到所述引线框架(102)的半导体裸片(104)。所述凸块(106)中的每一者包含连接到所述半导体裸片(104)的第一端(108)及连接到所述引线框架(102)的相对第二端(110)。所述第一端(108)具有第一端表面积。所述第二端(110)具有第二端表面积。所述第一端表面积小于所述第二端表面积。
搜索关键词: 半导体 装置 中的 成形 互连
【主权项】:
暂无信息
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