[发明专利]三维存储器件的字线接触结构及其制作方法在审
申请号: | 201880005331.0 | 申请日: | 2018-08-20 |
公开(公告)号: | CN110140212A | 公开(公告)日: | 2019-08-16 |
发明(设计)人: | 朱继锋;吕震宇;陈俊;胡思平;戴晓望;姚兰;肖莉红;郑阿曼;鲍琨;杨号号 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11529 | 分类号: | H01L27/11529;H01L27/11551 |
代理公司: | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人: | 林锦辉;刘景峰 |
地址: | 430074 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 公开了包括三维存储器件的字线接触结构的半导体结构实施例,以及形成字线接触结构的制造方法的实施例。半导体结构包括具有多个台阶的阶梯结构,且每个台阶包括位于介电层的上方的导电层。半导体结构还包括设置在每个台阶的导电层的一部分的上方的阻挡层。半导体结构还包括设置在阻挡层上的蚀刻停止层、以及设置在蚀刻停止层上的绝缘层。半导体结构还包括形成在绝缘层中的多个导电结构,且每个导电结构形成在每个台阶的导电层上。 | ||
搜索关键词: | 半导体结构 字线接触 导电层 绝缘层 三维存储器件 蚀刻停止层 导电结构 阻挡层 阶梯结构 介电层 制作 制造 | ||
【主权项】:
1.一种半导体结构,包括:阶梯结构,包括多个台阶,其中每个台阶包括导电层,该导电层设置在介电层的上方;阻挡层,设置在每个台阶的所述导电层的一部分的上方;蚀刻停止层,设置在所述阻挡层上;绝缘层,设置在所述蚀刻停止层上;以及多个导电结构,形成于所述绝缘层中,其中每个导电结构形成在每个台阶的导电层上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的