[实用新型]三维系统级封装结构有效

专利信息
申请号: 201820656523.5 申请日: 2018-05-04
公开(公告)号: CN208460760U 公开(公告)日: 2019-02-01
发明(设计)人: 袁鹰 申请(专利权)人: 袁鹰
主分类号: H01L25/065 分类号: H01L25/065;H01L25/18;H01L23/367;H01L23/31;H01L21/98
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200060*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种三维系统级封装结构,包括QFN(Quad Flat No‑lead)封装基体以及倒置于其中的内嵌封装体,内嵌封装体的上表面设置有内嵌封装体的电路引出端,在内嵌封装体的上表面上方放置有芯片(集成电路芯片和/或微机电芯片)和/或其他元器件并且与内嵌封装体电路引出端或QFN的焊盘通过相应的电连接机构形成电连接,内嵌封装体电路引出端通过相应的电连接机构与QFN的焊盘形成至少一个电连接。本方案可以在内嵌封装体内外都进行2D/3D芯片集成,集成芯片数量多,集成灵活性大,工艺成熟容易实现,成本低,适用于将各类芯片形成系统级集成模块,产品质量有充分保证,具有很高良品率。
搜索关键词: 封装体 内嵌 引出端 三维系统级封装结构 电路 电连接机构 电连接 上表面 焊盘 芯片 集成电路芯片 本实用新型 微机电芯片 封装基体 集成模块 集成芯片 芯片集成 形成系统 良品率 元器件 封装 体内 成熟 保证
【主权项】:
1.一种三维系统级封装结构,包括QFN(Quad Flat No‑lead)封装基体以及倒置于其中的内嵌封装体,内嵌封装体的上表面设置有内嵌封装体的电路引出端,在内嵌封装体的上表面上方放置有一个或多个集成电路芯片和/或其他元器件,上述集成电路芯片和/或其他元器件与内嵌封装体电路引出端或QFN的焊盘通过相应的电连接机构形成电连接,内嵌封装体电路引出端通过相应的电连接机构与QFN的焊盘形成至少一个电连接。
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