[发明专利]液晶介电常数的测量装置、测量系统、测量方法有效
| 申请号： | 201810710416.0 | 申请日： | 2018-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN108490270B | 公开（公告）日： | 2020-01-24 |
| 发明（设计）人： | 卢永春 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 11274 北京中博世达专利商标代理有限公司 | 代理人： | 胡萌 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种液晶介电常数的测量装置、测量系统、测量方法，以简化测量液晶在微波频段的介电常数的测量装置的结构，降低成本，并且提高测量装置的敏感度和精确度。其中所述测量装置包括：相对设置的第一基板和第二基板；依次设置于第一基板朝向第二基板一面上的导电层和第一配向膜，导电层配置为接收第一电压信号；依次设置于第二基板朝向第一基板一面上的谐振结构层和第二配向膜，谐振结构层配置为接收第二电压信号，且配置为传输微波信号；设置于第一基板和第二基板之间的边框，边框配合第一基板和第二基板形成用于容纳待测量的液晶的空腔。上述测量装置应用于对液晶在微波频段的介电常数的测量中。 | ||
| 搜索关键词： | 测量装置 第二基板 第一基板 测量 边框 液晶介电常数 测量系统 电压信号 介电常数 微波频段 谐振结构 依次设置 配向膜 液晶 传输微波信号 导电层配置 测量液晶 相对设置 导电层 敏感度 空腔 配置 容纳 应用 配合 | ||
【主权项】：
1.一种液晶介电常数的测量装置，其特征在于，所述测量装置包括：/n相对设置的第一基板和第二基板；/n依次设置于所述第一基板朝向所述第二基板一面上的导电层和第一配向膜，所述导电层配置为接收第一电压信号；/n依次设置于所述第二基板朝向所述第一基板一面上的谐振结构层和第二配向膜，所述谐振结构层配置为接收第二电压信号，且配置为传输微波信号；/n设置于所述第一基板和所述第二基板之间的边框，所述边框配合所述第一基板和所述第二基板形成用于容纳待测量的液晶的空腔；/n其中，所述谐振结构层包括：/n复合谐振结构，包括间隔设置的主谐振结构和从谐振结构，所述主谐振结构的品质因数小于所述从谐振结构的品质因数；/n分别设置于所述主谐振结构两端的第一信号线和第二信号线，所述第一信号线用于接收微波信号，所述第二信号线用于输出微波信号；/n连接于所述第一信号线与所述主谐振结构之间的第一耦合电容，及连接于所述第二信号线与所述主谐振结构之间的第二耦合电容。/n
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