[发明专利]一种背照式图形传感器的制造方法有效
申请号: | 201711019226.6 | 申请日: | 2017-10-26 |
公开(公告)号: | CN107910339B | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
发明(设计)人: | 林宏 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 吴世华;陈慧弘 |
地址: | 201210 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种背照式图形传感器的制造方法,包括:对像元芯片背面进行硅片减薄处理,在像元芯片背面表面依次沉积抗反射介质层和第一保护层,在第一保护层上形成不同颜色的滤色薄膜,各滤色薄膜之间具有连通的间隙,在滤色薄膜表面保形地沉积第二保护层,沿间隙位置定义出连通的深沟槽区域,刻蚀形成深沟槽,对深沟槽先后沉积介质阻挡层、金属阻挡层,并填充金属,对表面金属进行CMP抛光,并沉积介质覆盖层。本发明通过先完成滤色薄膜工艺,再采用第二保护层介质层全覆盖滤色薄膜,并进一步将深沟槽工艺与金属格栅工艺同步完成,可减少一个光刻步骤和金属格栅相关的工艺步骤,从而使成本得到降低。 | ||
搜索关键词: | 一种 背照式 图形 传感器 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种背照式图形传感器的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S01:提供一具有像元芯片的硅片,对所述像元芯片背面进行硅片减薄处理;步骤S02:在减薄后的像元芯片背面表面依次沉积抗反射介质层和第一保护层;步骤S03:在第一保护层上形成不同颜色的滤色薄膜;其中,各所述滤色薄膜之间具有相连通的间隙;步骤S04:在滤色薄膜表面保形地沉积第二保护层;步骤S05:沿间隙位置定义出连通的深沟槽区域;步骤S06:刻蚀形成深沟槽;步骤S07:对深沟槽先后沉积介质阻挡层、金属阻挡层,并填充金属;步骤S08:对器件表面多余的金属进行CMP抛光,并沉积介质覆盖层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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