[发明专利]一种背照式图形传感器的制造方法有效

专利信息
申请号: 201711019226.6 申请日: 2017-10-26
公开(公告)号: CN107910339B 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: 林宏 申请(专利权)人: 上海集成电路研发中心有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 吴世华;陈慧弘
地址: 201210 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种背照式图形传感器的制造方法,包括:对像元芯片背面进行硅片减薄处理,在像元芯片背面表面依次沉积抗反射介质层和第一保护层,在第一保护层上形成不同颜色的滤色薄膜,各滤色薄膜之间具有连通的间隙,在滤色薄膜表面保形地沉积第二保护层,沿间隙位置定义出连通的深沟槽区域,刻蚀形成深沟槽,对深沟槽先后沉积介质阻挡层、金属阻挡层,并填充金属,对表面金属进行CMP抛光,并沉积介质覆盖层。本发明通过先完成滤色薄膜工艺,再采用第二保护层介质层全覆盖滤色薄膜,并进一步将深沟槽工艺与金属格栅工艺同步完成,可减少一个光刻步骤和金属格栅相关的工艺步骤,从而使成本得到降低。
搜索关键词: 一种 背照式 图形 传感器 制造 方法
【主权项】:
一种背照式图形传感器的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S01:提供一具有像元芯片的硅片,对所述像元芯片背面进行硅片减薄处理;步骤S02:在减薄后的像元芯片背面表面依次沉积抗反射介质层和第一保护层;步骤S03:在第一保护层上形成不同颜色的滤色薄膜;其中,各所述滤色薄膜之间具有相连通的间隙;步骤S04:在滤色薄膜表面保形地沉积第二保护层;步骤S05:沿间隙位置定义出连通的深沟槽区域;步骤S06:刻蚀形成深沟槽;步骤S07:对深沟槽先后沉积介质阻挡层、金属阻挡层,并填充金属;步骤S08:对器件表面多余的金属进行CMP抛光,并沉积介质覆盖层。
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