[发明专利]一种含硫易切削钢中氧化物与硫化物提取、分离的方法在审
| 申请号： | 201710867943.8 | 申请日： | 2017-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN107621554A | 公开（公告）日： | 2018-01-23 |
| 发明（设计）人： | 闵义;张庆松;许海生;华瑶;刘承军;姜茂发 | 申请（专利权）人： | 东北大学 |
| 主分类号： | G01Q30/20 | 分类号： | G01Q30/20;G01N1/34 |
| 代理公司： | 北京易捷胜知识产权代理事务所(普通合伙)11613 | 代理人： | 韩国胜 |
| 地址： | 110169 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明属于钢铁冶金技术领域，尤其涉及一种含硫易切削钢中氧化物与硫化物提取、分离的方法。其包括以下步骤S1配制电解液、S2钢样表面预处理、S3非金属夹杂物与钢基体分离、S4夹杂物收集、S5磁选、S6‑1、过滤洗涤或S6‑2氧化物与硫化物分离、S7过滤洗涤；本发明提供的含硫易切削钢中氧化物与硫化物提取、分离的方法能够将含硫易切削钢中非金属夹杂物完整提取出来并实现氧化物与硫化物的分离，操作简单易行，周期短，便于应用实施。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 含硫易 切削 氧化物 硫化物 提取 分离 方法 | ||
【主权项】：
一种含硫易切削钢中氧化物与硫化物的提取方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：S1、配制电解液：将四甲基氯化铵、乙酰丙酮和甲醇均匀混合获得电解液(4)；S2、钢样表面预处理：去除氧化层、表面碎屑和油污；S3、非金属夹杂物与钢基体分离：首先将S1中配制的电解液(4)注入电解槽(7)中；然后将S2中表面预处理后的钢样(3)与直流电源(1)正极相连接作为阳极，另选取石墨棒(2)与直流电源(1)负极相连接并作为阴极进行电解；S4、夹杂物收集：电解结束后，将S3中的钢样(3)置入装有甲醇的烧杯中并采用超声波振荡使阳极泥从钢样表面充分剥落并均匀分散在甲醇中，同时形成阳极泥混合悬浊液；S5、磁选：用磁铁将S4中得到的阳极泥混合悬浊液中的磁性杂质去除，获得硫化物和氧化物的混合悬浊液；S6‑1、过滤洗涤：将S5中获得的硫化物和氧化物的混合悬浊液进行过滤并洗涤，获得氧化物和硫化物的混合物。
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- 扫描或聚焦离子束电镜连接透射电镜样品杆的转换装置-201721619044.8
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- 2017-11-28 - 2018-06-29 - G01Q30/20
- 本实用新型涉及材料测试技术，具体为一种扫描或聚焦离子束电镜连接透射电镜样品杆的转换装置。该装置包括：用于连接透射电镜样品杆和样品舱侧壁的高真空圆形气密法兰和波纹管、用于承载透射电镜样品杆的支架结构、用于实现透射电镜样品杆三维空间运动的高精度位移器、用于控制位移器的步进电机和电路单元等部分，透射电镜样品杆承载于支架结构上，通过高真空圆形气密法兰与扫描电镜、聚焦离子束电镜样品舱侧壁相连接，高精度位移器与透射电镜样品杆的末端相连，用于控制透射电镜样品杆在样品舱内的三维空间位置。本实用新型极大地方便样品的加工和显微结构分析，提高工作效率，广泛适用于各种型号的电镜样品杆和扫描电镜、聚焦离子束电镜连接。
- 取向硅钢绝缘涂层检测用夹具-201720707635.4
- 程灵;马光;杨富尧;高洁;吴雪;刘洋;何承绪;陈保安;聂京凯;韩钰;陈新;李靖;孔晓峰 - 全球能源互联网研究院有限公司;国家电网公司;国网浙江省电力公司
- 2017-06-16 - 2018-03-02 - G01Q30/20
- 本实用新型提供了一种取向硅钢绝缘涂层检测用夹具，包括导电基座，具有安装位；调节件，安装在导电基座上，并具有紧固安放在安装位的取向硅钢样品的第一工作位置，以及适于将安放在安装位的取向硅钢样品取出的第二工作位置；其中，在调节件的第一工作位置，调节件抵接取向硅钢样品的金属基体并与取向硅钢片样品、导电基座形成电连接，在第二工作位置，调节件与取向硅钢样品分离，通过设置可与扫描电镜的样品台电连接的导电基座，以及可抵接放置在导电基座上安装位上的取向硅钢样品，从而在通过扫描电镜观察涂层时不会出现图像信号漂移、不清晰的问题，同时降低了制样成本，提高了制样效率。
- 一种重复单元结构TEM样品的定位方法-201510460194.8
- 陈强;孙蓓瑶 - 上海华力微电子有限公司
- 2015-07-30 - 2018-02-27 - G01Q30/20
- 本发明提出一种重复单元结构TEM样品的定位方法，所述TEM样品由FIB制备完成，所述重复单元结构内部或相邻结构之间没有填充物，其特征在于先对包含观测目标的重复单元结构区域分别叠加淀积不同致密度的第一和第二保护层，实施填充，再根据切割时重复单元结构内部或相邻结构之间填充物的疏密状况定位到观测目标。本发明还提出一种利用上述定位方法实施重复单元结构的定点TEM的制样方法。本发明及相应的制样方法在现有技术上提高了TEM制样效率，改善了重复单元结构TEM样品的定位精准程度，进一步提高了制样的成功率和准确性，降低了制样的难度和成本。
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