“G01Q30/04”专利分类搜索_专利查询_文献下载_出售_求购_买卖_交易

钻瓜专利网为您找到相关结果19个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]扫描探针显微镜-CN201910001318.4有效
发明人：岩佐真行;鹿仓良晃;工藤慎也;上野利浩 -专利权人：日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2019-01-02 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G01Q30/04 文献下载
摘要：提供扫描探针显微镜，可选择性地显示或一同显示测定数据及其差分数据的分布像，能够得到边缘强调像并且提高了用户的便利性。扫描探针显微镜(200)具有悬臂(1)和检测表示悬臂的位移的信号的位移检测器(5)，取得在使探针(99)沿着试样(300)的表面相对地扫描时所获取的测定数据，该扫描探针显微镜(200)还具有：分布像计算单元(40a)，其计算测定数据的一维或二维的第一分布像(201)和测定数据的相邻的数据的差分数据的一维或二维的第二分布像(202)；以及显示控制单元(40b)，其指示分布像计算单元计算第一分布像和第二分布像中的任意一方或双方，并且使规定的显示单元显示所计算出的分布像。
扫描探针显微镜

[发明专利]原子探针分析方法、装置及记录媒体-CN201910236350.0有效
发明人：洪世玮 -专利权人：台湾积体电路制造股份有限公司
申请日： 2019-03-27 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： G01Q30/04 文献下载
摘要：本揭露提供一种原子探针分析方法、装置及记录媒体。所述方法包括下列步骤：利用脉冲激光器照射包括测试样品的原子探针；利用质谱仪分析由原子探针表面射出的离子以获得质谱图，其中所述离子包括一元素的多种量体且具有多种价数；以及对各量体的不同价数的离子在质谱图中对应的质荷比的计数值进行归一化，以获得各量体的离子所占的比例，并用以修正各量体的离子的定量结果。
原子探针分析方法装置记录媒体

[发明专利]扫描型探针显微镜和分析方法-CN201880086991.6有效
发明人：新井浩;平出雅人 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-01-29 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： G01Q30/04 文献下载
摘要：扫描型探针显微镜(1)具备控制部(15)。控制部(15)包括信号获取处理部(151)、图像获取处理部(152)、扫描条件变更处理部(154)、扫描处理部(155)以及噪声判定处理部(156)。在扫描型探针显微镜(1)中，在去除试样的表面图像中含有的噪声的情况下，扫描条件变更处理部(154)变更扫描条件。并且，信号获取处理部(151)获取来自检测部(12)的输出信号。图像获取处理部(152)基于该输出信号来获取试样(S)的表面图像。噪声判定处理部(156)基于通过扫描条件变更处理部(154)变更了扫描条件时的输出信号的变化或者试样(S)的表面图像的变化，来判定输出信号中是否含有噪声。因此，在输出信号中含有噪声的情况下，能够正确地判定该情况。
扫描探针显微镜分析方法

[发明专利]分析装置、显示控制方法以及记录介质-CN202210454768.0在审
发明人：渡边一马;新井浩;藤野敬太;平出雅人;池田雄一郎;中岛秀郎;山崎贤治 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2022-04-27 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01Q30/04 文献下载
摘要：本公开涉及分析装置、显示控制方法以及记录介质。提供一种尽量不对用户造成压力地进行试样的分析的技术。分析装置具备显示部以及控制显示部的显示控制部。显示控制部在用于分析试样的工序中的用户处于等待的工序中，使显示部显示规定信息。
分析装置显示控制方法以及记录介质

[实用新型]探针装置与探针控制设备-CN202122182395.X有效
发明人：周向前;伊沃·朗格诺 -专利权人：百及纳米科技（上海）有限公司
申请日： 2021-09-09 - 公布日： 2022-06-21 - 主分类号： G01Q30/04 文献下载
摘要：本实用新型实施例提供了一种探针装置与探针控制设备，涉及探针控制技术领域。探针装置，包括：多个探针、编解码装置；编解码装置用于对接收到的控制处理系统发送的探针控制信号进行解码，并将解码后的探针控制信号分别发送到对应的探针；探针用于根据接收到的探针控制信号对待操作表面进行操作处理，并将得到探针数据信号发送到编解码装置；编解码装置还用于对各探针的探针数据信号进行编码，并将编码后的各探针数据信号发送到控制处理系统。本实用新型中，可以利用编解码装置在探针装置与控制处理系统之间采用总线进行数据信号的高速传输，使得多探针的探针装置能够进行高速运行模式，有助于提升探针装置的测量和光刻速度。
探针装置控制设备

[发明专利]扫描型探针显微镜用数据处理装置-CN201680086985.1有效
发明人：山崎贤治;小暮亮雅 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2016-06-24 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： G01Q30/04 文献下载
摘要：本发明为一种扫描型探针显微镜用数据处理装置，其对通过使用扫描型探针显微镜利用探针扫描试样表面而针对该试样表面的多个测定点中的各方获取到的、表示相对于第1物理量的变化的第2物理量的变化的两轴数据进行处理，其具备：特征量算出部(41)，其根据各测定点上的两轴数据来求1种至多种特征量；特征量选择部(42)，其让使用者选择特征量中的1种；二维映射图像显示部(43)，其根据使用者对特征量的选择而画面显示为以各测定点为1像素的二维映射图像；以及两轴数据显示部(44)，当二维映射图像中的像素中的1个被使用者选择时，其对与该被选择的像素以及邻接于该像素的1个至多个像素相对应的测定点的两轴数据进行画面显示。
扫描探针显微镜数据处理装置

[发明专利]扫描型探针显微镜-CN201680086311.1有效
发明人：新井浩 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2016-06-02 - 公布日： 2021-06-11 - 主分类号： G01Q30/04 文献下载
摘要：在利用探针(16)以正向对试样(10)上的同一区域进行扫描并且获取跟踪图像数据时和以反向对该试样(10)上的同一区域进行扫描并且获取回扫图像数据时，偏差信息存储部(32)存储由偏差检测部(20)检测的偏差。该偏差表示该时间点的探针‑试样间的距离与该距离的目标值之间的偏差。因此图像数据选择部(31)针对每个测量点将正向扫描时的偏差与反向扫描时的偏差进行比较，选择偏差较小的扫描时获取到的图像数据，作为选择图像数据保存在图像数据存储部(33)的存储区域(33c)中。图像形成部(30)基于该选择图像数据生成试样表面形状图像并且显示在显示部(5)中。由此，即使在试样(10)上具有陡的凹凸并且探针‑试样间距离的反馈控制产生了跟踪延迟、紊乱的情况下，也能够显示接近实际的试样表面形状的准确的图像。
扫描探针显微镜

[发明专利]基于AFM的页岩孔隙度计算及组分孔隙贡献评价方法-CN202010619791.1有效
发明人：陈尚斌;李学元;陈司;龚卓;王阳;王慧军 -专利权人：中国矿业大学
申请日： 2020-06-30 - 公布日： 2021-05-25 - 主分类号： G01Q30/04 文献下载
摘要：本发明公开基于AFM的页岩孔隙度计算及组分孔隙贡献评价方法，包括如下步骤：S1、通过处理后的AFM数据提取出页岩表面三维高程数据和相位数据，对页岩表面三维高程数据进行校正；S2、采用阈值法，选取高度阈值，分割出孔隙函数，求取孔体积，根据孔隙度定义，计算出页岩孔隙度；S3、采用双阈值离散积分法，得到相位孔隙函数，利用相位孔隙函数计算不同相位区间内的孔隙度，将不同相位区间内的孔隙度和页岩物质成分进行线性拟合并计算它们之间的相关系数，以此来评价不同组分的孔隙贡献。本发明提供的基于AFM的页岩孔隙度计算及组分孔隙贡献评价方法，拓宽了AFM在非常规油气领域的应用范围。
基于 afm 页岩孔隙计算组分贡献评价方法

[发明专利]一种压电力显微镜数据读取和测量系统、装置及方法-CN202010104632.8在审
发明人：罗浩维 -专利权人：罗浩维
申请日： 2020-02-20 - 公布日： 2020-06-26 - 主分类号： G01Q30/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种压电力显微镜数据读取和测量系统、装置及方法，系统包括控制单元，参数设置单元，数据读取单元，数据处理单元，数据分析单元。装置包括安装所述测量系统的PC机、锁相放大器和原子力显微镜、AFM数字接入模块，原子力显微镜的一个数据输出端与锁相放大器的第一输入端连接，原子力显微镜的数字线端口与AFM数字接入模块连接，AF数字接入模块的数字接入端口与锁相放大器的第二输入端连接，锁相放大器的USB串口与PC机连接，接收测量系统传输的参数设置信号，并将采集到的数据传输到测量系统。该方法基于该系统。能够读取锁相放大器采集到的数据，并对数据进行分析，生成需要的数字图像。
一种压电显微镜数据读取测量系统装置方法

[发明专利]电介质微观界面荷电及陷阱特性的定量表征方法及装置-CN201910132530.4有效
发明人：周远翔;张云霄;张灵;周仲柳;陈健宁;滕陈源;黄欣;赖智鑫;李科 -专利权人：清华大学
申请日： 2019-02-22 - 公布日： 2020-06-19 - 主分类号： G01Q30/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种电介质微观界面荷电及陷阱特性的定量表征方法及装置，其中，方法包括：制备栅极电压可控的固体绝缘样品，并获取固体绝缘样品的微观形貌图，以得到绝缘材料的局域态分布特性；对固体绝缘样品进行极化处理，以在去极化过程得到探针上的静电力梯度及电势分布信息，并获取固体绝缘样品的样品表面电势分布特性；根据样品表面电势分布特性反演得到微观界面表面电荷密度分布特性，并且根据微观界面表面电荷密度分布特性和局域态分布特性反推得到绝缘材料的迁移率和陷阱深度。该方法具有操作简便、精确度高、且可为纳米复合材料微区界面表征和定向精准调控提供新技术和新方法等优点。
电介质微观界面陷阱特性定量表征方法装置

[发明专利]扫描型探针显微镜用数据显示处理装置以及处理方法-CN201480083538.1有效
发明人：新井浩;大田昌弘 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2014-11-21 - 公布日： 2019-10-01 - 主分类号： G01Q30/04 文献下载
摘要：扫描型探针显微镜用数据显示处理装置(1)具备：群组信息存储部(37)，针对每个群组，对多个测定数据进行管理存储；指定数据取得单元(32)，从群组信息存储部(37)取得使用者指定的测定数据即指定数据；显示控制单元(34)，将指定数据作为图像显示在显示部的画面；预备图像生成单元(33)，以指定数据的决定为触发，从群组信息存储部(37)取得属于包含指定数据的群组的其他测定数据，生成将其他测定数据显示在画面时的图像即预备图像；以及第1显示切换单元(36)，依照画面显示有指定数据时进行的、使用者的第1规定输入操作，使预备图像在画面规定区域内切换显示，能够不强迫使用者进行烦杂操作而简便地阅览多个测定数据。
测定数据群组信息预备图像存储部探针显微镜处理装置数据显示扫描型群组数据取得单元显示控制单元管理存储画面显示生成单元输入操作图像显示显示切换触发阅览图像

[发明专利]一种新型扫描探针显微镜的检测方法和系统-CN201710150146.8有效
发明人：吴浚瀚 -专利权人：广州市本原纳米仪器有限公司
申请日： 2017-03-14 - 公布日： 2019-05-21 - 主分类号： G01Q30/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种新型扫描探针显微镜的检测方法和系统，系统包括光源、微悬臂探针、四象限接收器和接收器信号处理模块，光源发出的入射光经微悬臂探针反射后形成反射光，反射光被四象限接收器所接收，四象限接收器的输出端与接收器信号处理模块的输入端连接，光源和四象限接收器调整后所固定的位置能使入射光的中心轴和反射光的中心轴所在的平面与微悬臂探针的悬臂梁伸展轴垂直。本发明使入射光的中心轴和反射光的中心轴所在的平面与微悬臂探针的悬臂梁伸展轴垂直，实现了探针弯曲与探针升降这两种运动方式在检测信号上完全解耦，结构简单，成本低，以微悬臂探针作为唯一载荷，保证了扫描驱动装置的响应频率。本发明可广泛应用于显微镜技术领域。
一种新型扫描探针显微镜检测方法系统

[实用新型]一种基于分形理论的有机外绝缘表面形貌分析装置-CN201721892314.2有效
发明人：高岩峰;卢毅;陈原;李炜;丁斌;李鑫;张旭;范硕超;王馨;王珣;龚延兴;王辉;张吉飞;龚志峰;王勇;康铁锋;杨静;王书渊;贾立宁 -专利权人：国网冀北电力有限公司张家口供电公司;华北电力科学研究院有限责任公司;国网冀北电力有限公司电力科学研究院;国家电网公司
申请日： 2017-12-29 - 公布日： 2018-07-17 - 主分类号： G01Q30/04 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种基于分形理论的有机外绝缘表面形貌分析装置，涉及电力系统技术领域。获得测量平面内有机外绝缘表面扫描数据，并设置投影平面；根据迭代参数确定分形结构判断立方体；覆盖到投影平面，并确定投影面积是否大于测量平面在投影平面的投影面积；若小于等于，则进行投影平面分割，确定当前迭代参数对应的覆盖立方体数量，并更新迭代参数，并返回更新分形结构判断立方体；若大于，则根据各迭代参数对应的覆盖立方体数量和分形结构判断立方体的边长，确定一线性回归关系，得到斜率的绝对值，确定分形上限尺度；根据该分形上限尺度，确定有机外绝缘表面的分形维度。本实用新型能够实现对有机外绝缘表面形貌的分形特征的准确分析。
外绝缘迭代参数投影平面分形结构表面形貌分析本实用新型分形理论分形投影覆盖测量尺度表面扫描数据电力系统技术表面形貌分形特征分形维度边长更新返回分割回归分析

[发明专利]一种基于透射电镜HAADF图像的材料结构定量化分析方法-CN201610029398.0有效
发明人：韩晓东;张斌;陈永金;刘显强;邓青松 -专利权人：北京工业大学
申请日： 2016-01-16 - 公布日： 2018-04-27 - 主分类号： G01Q30/04 文献下载
摘要：本发明提供一种基于透射电镜HAADF图像的材料结构定量化分析方法。通过图像处理技术获取透射电镜高分辨图像中各原子点阵的坐标位置，得到各原子的积分强度及其邻域归一化强度，并充分结合HAADF成像原理与强度信息的关系，而在HAADF图像定性研究的基础上获得一些定量化的信息。通过原子点阵坐标，归一化强度等数据可分析出多种的定量化结构信息。在本方法中，原子点阵坐标的确定与强度积分科学合理；而邻域归一化强度的应用避免了材料(尤其是多晶纳米材料)中存在的较大范围内的结构波动和缺陷带来的影响；且能快速的对结构信息进行统计分析，避免了人为测量的巨大工作量及误差。该方法具有结果准确、适用范围广、可操作性强等特点。
一种基于透射 haadf 图像材料结构量化分析方法

[发明专利]一种基于电镜扫描的孔隙各向异性估算方法-CN201710747525.5在审
发明人：郝宪杰;王少华;裴艳宇;赵毅鑫;郭延定;李玉麟;任波 -专利权人：中国矿业大学（北京）
申请日： 2017-08-28 - 公布日： 2017-12-12 - 主分类号： G01Q30/04 文献下载
摘要：孔隙各向异性是研究煤力学性质和煤矿地质内容的重要内容。如何准确且快速地测定煤样的孔隙各向异性，就成为一个亟需解决的问题。而当前对煤体孔隙各向异性的测试方法领域基本空白。因此提出并设计了一种基于电镜扫描的孔隙各向异性估算方法。本专利通过巴西圆盘劈裂实验获得实验所需碎屑片，进而进行电镜扫描、MATLAB处理分析，最终得到相关数据。本专利是一个整体且系统的创新性方法，在相关领域中处于领先地位，对煤岩体动力学性质的研究具有重要意义，在未来工程中的应用具有广阔的前景和重要意义。
一种基于扫描孔隙各向异性估算方法

1
2
下一页»
尾页
共 19 条