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[发明专利]基于复合电子信号图像的页岩孔缝类型识别方法-CN202210259661.0有效
发明人：杨继进 -专利权人：贝光科技（苏州）有限公司
申请日： 2022-03-16 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于复合电子信号图像的页岩孔缝类型识别方法，包括以下步骤：利用扫描电镜扫描页岩样品，在同一视域获得二维的二次电子信号图像和背散射电子信号图像；对二次电子信号图像进行孔缝提取而获得孔缝图像；将孔缝图像和背散射电子信号图像融合得到复合电子信号图像；对复合电子信号图像进行有机质提取而获得有机质图像；提取孔缝图像中的所有孔缝的边界以及有机质图像中所有的有机质边界；判断待识别孔缝的边界是否与有机质边界相邻，若判断为是，则待识别孔缝为有机孔缝，否则为无机孔缝。本发明能够快速有效地实现页岩孔缝类型的识别。
基于复合电子信号图像页岩类型识别方法

[发明专利]一种包含合金界面的三维原子探针样品及其制备方法-CN202310842156.3在审
发明人：杨妮;朱晨;苏岳锋;王联;李亚丽;刘兴兴 -专利权人：北京理工大学重庆创新中心
申请日： 2023-07-10 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本发明涉及微纳尺度材料样品制备技术领域，具体涉及一种包含合金界面的三维原子探针样品及其制备方法。本发明方法通过在基体表面的感兴趣区域表面沿合金界面的延展方向沉积定位块，然后再在该基体上截取类柱状样品并使得该定位块位于该类柱状样品的其中一个侧壁上，此时，再通过将上述类柱状样品固定于样品台的载样面上，在后续进行离子束环切刻蚀的过程中，则利用上述定位块材料与基体材料不同从而易于在离子束环切刻蚀过程中提供良好的质厚衬度这一优势，可有效解决了在合金界面处衬度较弱不易在电镜下进行观察导致的制样失败的缺陷，极大地提高制样的成功率。
一种包含合金界面三维原子探针样品及其制备方法

[发明专利]扫描或聚焦离子束电镜连接透射电镜样品杆的转换装置-CN201711218000.9有效
发明人：谭军;邰凯平 -专利权人：中国科学院金属研究所
申请日： 2017-11-28 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本发明涉及材料测试技术，具体为一种扫描电镜、聚焦离子束电镜连接透射电镜样品杆的转换装置。该装置包括：用于连接透射电镜样品杆和样品舱侧壁的高真空圆形气密法兰和波纹管、用于承载透射电镜样品杆的支架结构、用于实现透射电镜样品杆三维空间运动的高精度位移器、用于控制位移器的步进电机和电路单元等部分，透射电镜样品杆承载于支架结构上，通过高真空圆形气密法兰与扫描电镜、聚焦离子束电镜样品舱侧壁相连接，高精度位移器与透射电镜样品杆的末端相连，用于控制透射电镜样品杆在样品舱内的三维空间位置。本发明极大地方便样品的加工和显微结构分析，提高工作效率，广泛适用于各种型号的电镜样品杆和扫描电镜、聚焦离子束电镜连接。
扫描聚焦离子束连接透射样品转换装置

[发明专利]一种分析表面镀层缺陷产品的样品及其制备方法-CN202310529061.6在审
发明人：苑小倩;何小琴;朱启茂;刘向明;孙静;蔡红梅 -专利权人：首钢京唐钢铁联合有限责任公司
申请日： 2023-05-11 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本申请涉及一种分析表面镀层缺陷产品的样品及其制备方法，属于金属材料检验技术领域；方法包括：得到待测镀层件；采用耐高温材料对所述待测镀层件进行包裹封闭，以在所述待测镀层件上包裹耐高温材料层，得到中间品；对所述中间品进行镶嵌，得到样品；通过在待测镀层件上先包裹一层耐高温材料，实现待测镀层件和镶嵌粉的隔离，并能起到一定的隔热作用，有效的避免了镶嵌粉和热镶嵌的高温对待测镀层件的镀层的影响，进而保证了后续分析结果的准确性，同时耐高温材料的设置也不影响镶嵌的效果。
一种分析表面镀层缺陷产品样品及其制备方法

[发明专利]一种平面离子通道衬度试样的制备方法-CN202110162530.6有效
发明人：周莹;陈鹰;郝玉红;吴立敏;陈永康;郝萍;历艳君;徐建 -专利权人：上海市计量测试技术研究院
申请日： 2021-02-05 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种微纳米级尺寸范围的平面离子通道衬度试样的制备方法，对平面离子通道衬度试样（3）的抛光区域（8）至少进行一次聚焦离子束（5）预抛光，至少进行一次交叉式聚焦离子束（5）粗抛光，至少进行一次交叉式聚焦离子束（5）精抛光，直至去除平面离子通道衬度试样（3）的抛光区域（8）上的划痕和非晶层。本发明制备的试样在进行平面离子通道衬度（ICC）测试时，图像清晰度较高，能够清楚地观测晶粒结构、尺寸、分布、缺陷等信息。本发明直观地表征材料包覆层均匀型和掺杂元素分布，对分析、优化电池的制备工艺、提高电池使用性能、安全性能等起到关键性的技术支撑作用。
一种平面离子通道试样制备方法

[发明专利]一种用于半导体芯片透射电镜样品分析的样品架-CN202310755692.X在审
发明人：罗晓丹;朱超;曹后平;华佑南;李晓旻 -专利权人：胜科纳米（苏州）股份有限公司
申请日： 2023-06-26 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于半导体芯片透射电镜样品分析的样品架。该用于半导体芯片透射电镜样品分析的样品架包括样品架本体，所述样品架本体包括两个支臂，两个所述支臂相对设置，两个所述支臂之间设有用于放置样品的盛放柱；至少一个所述支臂上设有供镊子夹持的夹持槽，所述夹持槽侧面开口且贯穿所述支臂的外侧边缘。通过采用上述方案，解决了现有的样品架在用镊子夹样品架时容易被夹弯曲、被夹伤以及被夹飞的问题。
一种用于半导体芯片透射样品分析

[发明专利]用于收集地下土壤气体中纳米级微粒的装置-CN201611035262.7有效
发明人：叶荣;王晓佳;鲁美 -专利权人：中国地质大学（北京）
申请日： 2016-11-23 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本发明提供一种用于收集地下土壤气体中纳米级微粒的装置，包括A组件和B组件，A组件包括依次设置的第一气管、第一中空套筒、第二中空套筒和第二气管，第二中空套筒的中空部分为阶梯孔；B组件设置在第二中空套筒中，B组件包括第三中空套筒和第四中空套筒，第三中空套筒的第一端用于与第一中空套筒相抵接，第三中空套筒的第二端嵌入第四中空套筒中，第四中空套筒的内壁处设有凸台，第一气管、第一中空套筒、第三中空套筒、第四中空套筒、第二中空套筒的至少一段阶梯孔以及第二气管依次串接形成过气通道。其结构简单，便于安装和固定TEM观测载体，能有效捕集地气中的纳米微粒，并能将捕集到的纳米微粒直接置于透射电镜下进行观察。
用于收集地下土壤气体纳米微粒装置

[实用新型]原子力显微镜原位测试薄膜样品的制样装置及制样系统-CN202223320475.8有效
发明人：张凤元;刘凯鑫;黄博远;李江宇 -专利权人：南方科技大学
申请日： 2022-12-09 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种原子力显微镜原位测试薄膜样品的制样装置及制样系统，制样装置包括：绝缘树脂体，第一电极，第二电极，第一导线以及第二导线。第一电极和第二电极夹持薄膜；第一宽端、第二宽端以及薄膜靠近第一宽端的一侧，均平齐于绝缘树脂体的表面；在垂直于薄膜的方向上，第一宽端和第二宽端对应设置，且第一窄端和第二窄端错开设置。当第一电极和第二电极分别连接在薄膜两侧时，第一宽端和第二宽端相对应设置，第一窄端和第二窄端是相互错开的，从而确保引出电极时不会相互干扰。通过薄膜与本申请的制样装置形成薄膜样品，以供原子力显微镜进行测试，确保了获取更多薄膜样品微观结构信息。
原子显微镜原位测试薄膜样品装置系统

[发明专利]一种纺织品文物观察样本的制备方法-CN202310345620.8在审
发明人：彭志勤;贾瑞;杨丹;李宇星;王秉;万军民;胡智文 -专利权人：浙江理工大学
申请日： 2023-04-03 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本发明涉及纺织品文物观察的技术领域，公开了一种纺织品文物观察样本的制备方法，包括如下步骤：(1)将固体硫加热熔化得到液体硫，并在室温下冷却，使其处于过冷液态，得到过冷硫滴；(2)将纺织品文物样品完全浸入过冷硫滴中；(3)将包裹着纺织品文物样品的过冷硫滴转移到超微样品观察片上，并压平、继续静置等待凝固，得到压平后凝固样品；(4)将压平后凝固样品采用低能Ar离子束剖面，得到纺织品文物观察样本。本发明相比于传统观察文物的制样手段，更加节省文物的使用量，仅些许织物碎片甚至是少量碎纤维即可满足对于考古纤维的观察，且不会破坏脆弱的考古纺织品纤维的结构，方法简单易行、观察效果好。
一种纺织品文物观察样本制备方法

[发明专利]一种利用扫描探针构筑共轭聚合物纳米导电图案的方法-CN201810764675.1有效
发明人：张彬;王冰花;陈静波 -专利权人：郑州大学
申请日： 2018-07-12 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种利用扫描探针构筑共轭聚合物纳米导电图案的方法，该方法包括共轭聚合物溶液的配制、加热充分溶解，共轭聚合物溶液的过滤，涂在导电基板上成膜，加热共轭聚合物薄膜得到生成纤维晶的共轭聚合物结晶薄膜，对生成纤维晶的共轭聚合物结晶薄膜冲洗、吹干得到共轭聚合物纳米纤维晶，然后在AFM扫描共轭聚合物纳米纤维晶过程中，通过在探针上交替施加小电压和大电压，从而在共轭聚合物纳米纤维晶表面构筑图案。本发明所述的构筑方法基于焦耳加热或者焦耳加热与热氧化相结合，利用扫描探针在纳米尺度上实现了对共轭聚合物晶体导电性能的控制和图案化，构筑的图案不存在物质转移、材料表面形貌不改变。
一种利用扫描探针构筑共轭聚合物纳米导电图案方法

[发明专利]透射电子显微镜样品的制备方法-CN202310341087.8在审
发明人：李丽媛;高金德 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2023-03-31 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本发明提供一种透射电子显微镜样品的制备方法，先在目标层上形成至少两层层叠的离子束保护层，每层离子束保护层包括材质不同的第一保护层和第二保护层，然后，采用聚焦离子束对至少一层离子束保护层进行刻蚀，并根据刻蚀后的离子束保护层表面的刻蚀图像判断聚焦离子束的刻蚀角度是否为预设刻蚀角度。由于，第一保护层与第二保护层的图像的衬度也不同，由此可以根据刻蚀图像的衬度判断出聚焦离子束的刻蚀角度是否为预设刻蚀角度，在刻蚀角度不符合预设刻蚀角度时，能够及时的根据判断结果来调整聚焦离子束的刻蚀角度，防止观测目标单元被损伤或变形，保证透射电子显微镜样品的信息完整性，提高透射电子显微镜样品制样的成功率。
透射电子显微镜样品制备方法

[发明专利]一种水泥硬化浆体中废弃粘土砖粉反应程度的测定方法-CN202211463916.1在审
发明人：高建明;李述俊;赵亚松;罗旭;徐振海;陈高丰 -专利权人：东南大学
申请日： 2022-11-22 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种水泥硬化浆体中废弃粘土砖粉反应程度的测定方法，该方法的步骤主要包括：第一，含废弃粘土砖粉水泥浆体测试样品的制备；第二，含废弃粘土砖粉水泥浆体测试样品的能谱分析及图片的拍摄；第三，含废弃粘土砖粉水泥浆体测试样品能谱分析图片的亮度信息数字转化；第四，计算废弃粘土砖粉在水泥浆体中的反应程度。该方法操作方便、结果重复性好，能够满足不同类型废弃粘土砖粉在水泥硬化浆体中不同龄期时的反应程度测定需求。
一种水泥硬化浆体中废弃粘土砖反应程度测定方法

[发明专利]一种纳米步进样品扫描计量型扫描电子显微镜-CN201510873126.4有效
发明人：高思田;李伟;施玉书;李琪 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2015-12-04 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种纳米步进样品扫描计量型扫描电子显微镜，二维激光干涉仪包括两个干涉仪，干涉仪分别位于测量样品在X方向和Y方向的位置，干涉仪的光源通过光纤从激光器引入，穿过玻璃窗的真空窗口片，在电镜内分成两束，分别入射到两个干涉镜；超声电机粗调位移台做扫描运动时，一个出射干涉光经真空窗入射到光电探测器作为位移台X轴位移数据信号；另一束干涉光经平面反射镜反射后入射靠近舱门的干涉仪，出射干涉光由另一个探测器接收作为位移台Y轴位移数据信号；所述X、Y轴位移数据配合电镜采集样品表面由电子束激发的二次电子信号，得到经过激光干涉仪溯源的测量数据。提供一种能够将其测量值直接溯源到米定义国家基准的标准的电子显微镜。
一种纳米步进样品扫描计量电子显微镜

[发明专利]原子力显微镜原位测试薄膜样品的制样装置、系统、方法-CN202211580757.3在审
发明人：黄博远;刘凯鑫;张凤元;李江宇 -专利权人：南方科技大学
申请日： 2022-12-09 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种原子力显微镜原位测试薄膜样品的制样装置、系统、方法，制样装置包括：绝缘树脂体，第一电极，第二电极，第一导线以及第二导线。第一电极和第二电极夹持薄膜；第一宽端、第二宽端以及薄膜靠近第一宽端的一侧，均平齐于绝缘树脂体的表面；在垂直于薄膜的方向上，第一宽端和第二宽端对应设置，且第一窄端和第二窄端错开设置。当第一电极和第二电极分别连接在薄膜两侧时，第一宽端和第二宽端相对应设置，第一窄端和第二窄端是相互错开的，从而确保引出电极时不会相互干扰。通过薄膜与本申请的制样装置形成薄膜样品，以供原子力显微镜进行测试，确保了获取更多薄膜样品微观结构信息。
原子显微镜原位测试薄膜样品装置系统方法

[发明专利]一种强织构组织金属透射电子显微表征制样方法-CN202010715192.X有效
发明人：曾才有;张宇鹏 -专利权人：广东省焊接技术研究所（广东省中乌研究院）
申请日： 2020-07-22 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本发明公开一种强织构组织金属透射电子显微表征制样方法，所述方法为：在强织构金属中切割薄片，薄片正面法向与强织构方向呈一定角度；在薄片样品中切出若干圆片试样；通过胶水将圆片试样粘贴在特制圆柱磨样器上，利用SiC砂纸将圆片试样磨薄至一定厚度，根据金属种类特性决定最终磨薄厚度；采用电解双喷减薄工艺在磨好的圆片试样中心进行穿孔，在孔周围获得可用于电子透射表征的薄区。本发明的优势在于能有效解决强织构组织晶粒取向单一，透射电镜多晶带轴倾转表征困难的问题，制样过程易操作，制备效率和成功率高。
一种强织构组织金属透射电子显微表征方法

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