[发明专利]一种提升正片外层AOI检修效率的方法在审
| 申请号： | 201710667115.X | 申请日： | 2017-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN107548239A | 公开（公告）日： | 2018-01-05 |
| 发明（设计）人： | 徐文中;胡志杨;李江;汪广明 | 申请（专利权）人： | 江门崇达电路技术有限公司 |
| 主分类号： | H05K3/22 | 分类号： | H05K3/22 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所44242 | 代理人： | 冯筠 |
| 地址： | 529000 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提升正片外层AOI检修效率的方法，包括以下步骤以正片工艺在生产板上制作外层线路中，在退锡后，用火山灰磨板；磨板后，对生产板进行微蚀处理，控制微蚀量为0.05‑0.15μm；对生产板进行AOI双面扫描；最后对生产板进行外层AOI检修。本发明方法可显著减少线路板上假点的出现，减少对AOI检修机操作员的影响，提高检修工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提升 正片 外层 aoi 检修 效率 方法 | ||
【主权项】：
一种提升正片外层AOI检修效率的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、以正片工艺在生产板上制作外层线路中，在退锡后，用火山灰磨板；S2、磨板后，对生产板进行微蚀处理，控制微蚀量为0.05‑0.15μm；S3、对生产板进行AOI双面扫描；S4、最后对生产板进行外层AOI检修。
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