[发明专利]半导体存储装置及其操作方法有效
申请号: | 201710565205.8 | 申请日: | 2017-07-12 |
公开(公告)号: | CN108122584B | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 朴恩英 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | G11C16/14 | 分类号: | G11C16/14;G11C16/24;G11C16/30 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;刘久亮 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 半导体存储装置及其操作方法。该半导体存储装置包括:存储单元阵列,所述存储单元阵列包括多个存储块;电压发生器,所述电压发生器用于在擦除操作期间向从所述多个存储块当中选择的至少一个存储块的源极线施加擦除电压;读取和写入电路,所述读取和写入电路用于在所述擦除操作期间向至少一个存储块的位线施加初始设置电压;以及控制逻辑,所述控制逻辑用于控制所述电压发生器和所述读取和写入电路在向所述源极线施加所述擦除电压之前向所述位线施加所述初始设置电压。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 及其 操作方法 | ||
【主权项】:
一种半导体存储装置,该半导体存储装置包括:存储单元阵列,所述存储单元阵列包括多个存储块;电压发生器,所述电压发生器用于在擦除操作期间向从所述多个存储块当中选择的至少一个存储块的源极线施加擦除电压;读取和写入电路,所述读取和写入电路用于在所述擦除操作期间向至少一个存储块的位线施加初始设置电压;以及控制逻辑,所述控制逻辑用于控制所述电压发生器和所述读取和写入电路在向所述源极线施加所述擦除电压之前向所述位线施加所述初始设置电压。
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