[发明专利]一种磷化铟背孔的制作方法有效
申请号: | 201611154073.1 | 申请日: | 2016-12-14 |
公开(公告)号: | CN106684061B | 公开(公告)日: | 2019-01-25 |
发明(设计)人: | 常龙;程伟;王元 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
主分类号: | H01L23/482 | 分类号: | H01L23/482;H01L21/60 |
代理公司: | 南京君陶专利商标代理有限公司 32215 | 代理人: | 沈根水 |
地址: | 210016 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明是一种磷化铟背孔的制作方法,包括:(1)在磷化铟圆片正面需要开背孔的位置,制作金属阻挡层,并完成正面工艺;(2)将圆片正面与临时载片蓝宝石键合,并对圆片背面进行减薄、抛光;(3)在圆片背面光刻制作背孔图形,并且保证背孔位置与正面金属阻挡层一致,形成刻蚀掩模;(4)将STS ICP干法刻蚀机的背氦温度升至190℃,利用氯气(Cl2)和氩气Ar组合气体进行干法刻蚀,直到刻到正面金属阻挡层;(5)去除刻蚀掩模;(6)背面溅射种子层,电镀背金填充背孔,完成背孔制作。本发明优点:解决了磷化铟深孔刻蚀的难题,背孔形貌、刻蚀重复性、一致性都很好,同时工艺简单,能与砷化镓工艺兼容,适合大规模推广应用。 | ||
搜索关键词: | 一种 磷化 铟背孔 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种磷化铟背孔的制作方法,其特征是该方法包括以下步骤:(1)在磷化铟圆片正面需要开背孔的位置,制作金属阻挡层,并完成正面工艺;(2)将磷化铟圆片正面与临时载片蓝宝石键合,并对圆片背面进行减薄、抛光;(3)在磷化铟圆片背面光刻制作背孔图形,并且保证背孔位置与正面金属阻挡层一致,形成刻蚀掩模;(4)将STS ICP干法刻蚀机的背氦温度升至190℃,利用氯气Cl2和氩气Ar组合气体进行干法刻蚀,直到刻到正面金属阻挡层;(5)去除刻蚀掩模;(6)背面溅射种子层,电镀背金填充背孔,完成背孔制作;所述磷化铟圆片正面是利用金属阻挡层控制刻蚀深度的;所述背孔刻蚀掩模使用的是金属Ni掩膜,该掩膜耐受高温刻蚀;所述背孔刻蚀使用Cl2和Ar的组合气体进行ICP刻蚀,氯离子主要起化学刻蚀作用,氩离子主要起物理轰击作用;所述刻蚀过程:利用背氦温度及刻蚀产生的能量将圆片温度控制在245‑255℃,以保证刻蚀速率及背孔形貌;所述去除刻蚀掩模:利用稀盐酸去掉Ni刻蚀掩模;所述背孔顶宽底窄,溅射种子层后在侧壁电镀上一层Au,以实现正面金属与背金互连。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第五十五研究所,未经中国电子科技集团公司第五十五研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611154073.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:增强的冷却结构的集成电路封装件
- 下一篇:集成电路的布局