[发明专利]晶片封装体及其制造方法在审
| 申请号: | 201611031956.3 | 申请日: | 2016-11-22 |
| 公开(公告)号: | CN107039328A | 公开(公告)日: | 2017-08-11 |
| 发明(设计)人: | 何彦仕;叶晓岚;林佳升;张义民;李柏汉;吴晖贤;吴俊良 | 申请(专利权)人: | 精材科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L23/00;H01L23/04;H01L21/52;G06K9/00 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人: | 刘新宇 |
| 地址: | 中国台湾桃园市中*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | 一种晶片封装体及其制造方法,该晶片封装体包含晶片、第一粘胶层、第二粘胶层与保护罩。晶片具有感测区、相对的第一表面与第二表面、及邻接第一表面与第二表面的侧面。感测区位于第一表面上。第一粘胶层覆盖晶片的第一表面。第二粘胶层位于第一粘胶层上,使第一粘胶层位于第一表面与第二粘胶层之间。保护罩具有底板与围绕底板的侧壁。底板覆盖第二粘胶层,且侧壁覆盖晶片的侧面。本发明不仅可提升整体晶片封装体的强度,还不易产生翘曲的问题,且能够提升产品良率。 | ||
| 搜索关键词: | 晶片 封装 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种晶片封装体,其特征在于,包含:晶片,具有感测区、相对的第一表面与第二表面、及邻接该第一表面与该第二表面的侧面,其中该感测区位于该第一表面上;第一粘胶层,覆盖该晶片的该第一表面;第二粘胶层,位于该第一粘胶层上,使该第一粘胶层位于该第一表面与该第二粘胶层之间;以及保护罩,具有底板与围绕该底板的侧壁,该底板覆盖该第二粘胶层,且该侧壁覆盖该晶片的该侧面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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