[发明专利]晶片封装体及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201611031956.3 申请日: 2016-11-22
公开(公告)号: CN107039328A 公开(公告)日: 2017-08-11
发明(设计)人: 何彦仕;叶晓岚;林佳升;张义民;李柏汉;吴晖贤;吴俊良 申请(专利权)人: 精材科技股份有限公司
主分类号: H01L21/683 分类号: H01L21/683;H01L23/00;H01L23/04;H01L21/52;G06K9/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 代理人: 刘新宇
地址: 中国台湾桃园市中*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种晶片封装体及其制造方法,该晶片封装体包含晶片、第一粘胶层、第二粘胶层与保护罩。晶片具有感测区、相对的第一表面与第二表面、及邻接第一表面与第二表面的侧面。感测区位于第一表面上。第一粘胶层覆盖晶片的第一表面。第二粘胶层位于第一粘胶层上,使第一粘胶层位于第一表面与第二粘胶层之间。保护罩具有底板与围绕底板的侧壁。底板覆盖第二粘胶层,且侧壁覆盖晶片的侧面。本发明不仅可提升整体晶片封装体的强度,还不易产生翘曲的问题,且能够提升产品良率。
搜索关键词: 晶片 封装 及其 制造 方法
【主权项】:
一种晶片封装体,其特征在于,包含:晶片,具有感测区、相对的第一表面与第二表面、及邻接该第一表面与该第二表面的侧面,其中该感测区位于该第一表面上;第一粘胶层,覆盖该晶片的该第一表面;第二粘胶层,位于该第一粘胶层上,使该第一粘胶层位于该第一表面与该第二粘胶层之间;以及保护罩,具有底板与围绕该底板的侧壁,该底板覆盖该第二粘胶层,且该侧壁覆盖该晶片的该侧面。
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