[发明专利]三维集成电路结构及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201610649598.6 申请日: 2016-08-10
公开(公告)号: CN106486466A 公开(公告)日: 2017-03-08
发明(设计)人: 郑光伟;陈怡秀;杨固峰;邱文智 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L25/065 分类号: H01L25/065;H01L23/48;H01L21/98;H01L21/768
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司11409 代理人: 章社杲,李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开了一种三维集成电路结构和及其制造方法。三维集成电路结构包括第一芯片和第二芯片。第一芯片在接合界面处接合至第二芯片。第一芯片的通孔和第二芯片的接合焊盘电连接,并且通孔的扩散阻挡层在接合界面处接触接合焊盘。本发明实施例涉及三维集成电路结构及其制造方法。
搜索关键词: 三维集成电路 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
一种三维集成电路结构,包括:第一芯片,在接合界面处接合至第二芯片,其中,所述第一芯片的通孔和所述第二芯片的接合焊盘电连接,并且所述通孔的扩散阻挡层在所述接合界面处接触所述接合焊盘。
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