[发明专利]存储器元件及其制作方法有效
申请号: | 201610120731.9 | 申请日: | 2016-03-03 |
公开(公告)号: | CN106935587B | 公开(公告)日: | 2019-09-24 |
发明(设计)人: | 吕函庭 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/11551 | 分类号: | H01L27/11551;H01L29/423;H01L21/28 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种具有多个存储单元的存储器元件及其制作方法。该存储器元件包括由多个由导电条带所构成的多个叠层结构。其中,这些导电条带是被多个绝缘条带所分隔。包含浮置栅极的数据储存结构是沿着叠层结构中的导电条带设置。垂直通道膜设置于叠层结构的侧壁上。多个存储单元中的多个存储单元具有位于垂直通道膜中的通道,和位于导电条带中的控制栅极。隧穿氧化层位于垂直通道膜和浮置栅极之间。浮置栅极可以和叠层结构中的导电条带共平面,或位于叠层结构中的导电条带之间。 | ||
搜索关键词: | 存储器 元件 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种具有多个存储单元的存储器元件,包括:多个叠层结构,是由多个导电条带所构成;其中,这些导电条带是被多个绝缘条带所分隔;多个数据储存结构,包含多个浮置栅极沿着这些叠层结构中的这些导电条带设置;多个垂直通道膜,位于这些叠层结构的多个侧壁上;以及这些存储单元中的多个存储单元,具有位于这些垂直通道膜中的多个通道,以及位于这些导电条带中的多个控制栅极;其中这些存储单元中的多个存储单元,具有位于这些导电条带中的多个特定导电条带中的多个控制栅极,以及位于这些特定导电条带的一第一侧边上的多个浮置栅极;且这些存储单元中的多个邻接存储单元,具有位于这些特定导电条带中的多个控制栅极,以及位于这些特定导电条带中与该第一侧边相反的一第二侧边上的多个浮置栅极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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