[发明专利]半导体器件及其布局方法有效

专利信息
申请号: 201510437337.3 申请日: 2015-07-23
公开(公告)号: CN105845676B 公开(公告)日: 2019-11-01
发明(设计)人: 周庭暐;吴文朗;陈启通;陈顺利;江庭玮;田丽钧 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/04 分类号: H01L27/04;H01L27/092;H01L21/77;H01L21/768;H01L23/528
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 在一些实施例中,半导体器件包括第一有源区、第二有源区和导电金属结构。第二有源区与第一有源区分隔开。导电金属结构布置为连接第一有源区与第二有源区。导电金属结构包括第一支柱、第二支柱和主体。第二支柱与第一支柱分隔开且主体在第一支柱和第二支柱之间延伸并连接第一支柱和第二支柱。本发明涉及半导体器件及其布局方法。
搜索关键词: 半导体器件 及其 布局 方法
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:第一有源区;第二有源区,与所述第一有源区分隔开;以及导电金属结构,布置为连接所述第一有源区和所述第二有源区,所述导电金属结构包括第一支柱、与所述第一支柱分隔开的第二支柱以及在所述第一支柱和所述第二支柱之间延伸并且连接所述第一支柱和所述第二支柱的主体,其中,所述主体的两端分别位于所述第一支柱和所述第二支柱两端部之间的位置。
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