[发明专利]饱和共振能量转移超分辨探针及其制备方法和应用在审
| 申请号： | 201510271834.0 | 申请日： | 2015-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN106290988A | 公开（公告）日： | 2017-01-04 |
| 发明（设计）人： | 侯尚国;邓素辉;程亚;黄庆;樊春海 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 主分类号： | G01Q60/00 | 分类号： | G01Q60/00 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所31283 | 代理人： | 钟华,沈利 |
| 地址： | 201800 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种饱和共振能量转移超分辨的探针及其制备方法和应用。该探针包括以下的组成部分：荧光蛋白、与所述荧光蛋白连接的抗所述荧光蛋白的重链单域抗体VHH和与所述重链单域抗体VHH连接的有机荧光分子，所述有机荧光分子与所述荧光蛋白互为饱和共振能量转移供体和饱和共振能量转移受体。所述的探针可以方便地对细胞内的荧光蛋白进行超分辨成像，而且还可以进行多色、活细胞的饱和共振能量转移超分辨成像。大大简化了标记步骤，解决了多色成像和活细胞成像的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 饱和 共振 能量 转移 分辨 探针 及其 制备 方法 应用 | ||
【主权项】：
一种饱和共振能量转移超分辨的探针，其特征在于，其包括以下的组成部分：荧光蛋白、与所述荧光蛋白连接的抗所述荧光蛋白的重链单域抗体VHH和与所述重链单域抗体VHH连接的有机荧光分子，所述有机荧光分子与所述荧光蛋白互为饱和共振能量转移供体和饱和共振能量转移受体。
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- 韩雄;王矛宏;钱锋;罗力 - 苏州飞时曼精密仪器有限公司
- 2014-06-13 - 2014-10-22 - G01Q60/00
- 本实用新型公开了一种一体式半自动化扫描探针显微镜，包括隔音箱和显微镜主体，显微镜主体包括底座样品台，底座样品台的内部设置有二维移动架和扫描器，扫描器的上端延伸出底座样品台的上表面；扫描器的上方设置有扫描探头，扫描探头内设置有激光检测装置，扫描探头的下方设有探针架，扫描探头固定在探头升降装置上，探头升降装置设在底座样品台的一侧，扫描探头的上方设置有CCD摄像头，CCD摄像头固定在CCD升降装置上。本实用新型的扫描探针显微镜扫描探头与底座上样品台上的扫描器在结构上相互独立，且可任意调节扫描探头与扫描器的间隔大小，进而可在扫描器上放置任意尺寸的样品，具有更广的适用范围，且自动化控制程度高。
- 一种零件表面无损检测装置-201320605561.5
- 韩晓耕;张勇;田文文;段辉;胡罡;杨春梅 - 天津欣维检测技术有限公司
- 2013-09-27 - 2014-04-16 - G01Q60/00
- 本实用新型提供一种零件表面无损检测装置，包括检测室，所述检测室内设置有检测台，检测台下端活动连接位置粗调装置，通过粗调机构可以将检测台快速调节到一个合适的位置，检测台上可以放置待测工件，检测台上方设置有压电扫描器，压电扫描器下端连接探针，检测室内上端设置有震动隔离机构；所诉检测台下端连接有偏置电压发生器，探针通过信号线单向连接电流放大器，电流放大器通过信号线分别连接显示控制系统和压电扫描器，所述压电扫描器则通过信号线单向连接显示控制系统。本实用新型使用探针的微小电流对工件表面的曲线进行勘测，敏感、准确，方便操作。
- 确定半导体材料中电荷俘获中心的方法-201210145722.7
- 刘朋;王振中;李超 - 无锡派腾微纳米科技有限公司
- 2012-05-11 - 2013-11-13 - G01Q60/00
- 一种确定半导体材料中电荷俘获中心的方法，包括：提供半导体材料，所述半导体材料表面形成源极和漏极结构；金属探针作为可以移动的栅极；通过改变探针的位置来改变俘获中心所俘获的电子数目；通过在平行于半导体材料表面的平面扫描金属探针，获得栅极电流随金属探针位置变化的图像，进而确定电子俘获中心的位置。通过本发明所提供的方法，可以确定半导体材料中电子俘获中心的位置和分布密度。
- 粗逼近马达可脱离扫描结构的扫描探针显微镜镜体-201110187402.3
- 王琦;陆轻铀 - 中国科学技术大学
- 2011-07-05 - 2013-01-09 - G01Q60/00
- 本发明粗逼近马达可脱离扫描结构的扫描探针显微镜镜体包括压电定位器，样品座，探针座，粗逼近马达，其特征是还包括导轨，粗逼近马达和压电定位器设置于导轨上，样品座和探针座双方之一设置于压电定位器上，另一方设置于导轨上，样品座、探针座和压电定位器三者之一作为动体受粗逼近马达推动沿导轨进行样品座和探针座间的粗逼近，粗逼近马达在回撤时与动体分开，独自回撤。动体和粗逼近马达间可连松弛的绳子，动体在粗逼近马达回撤时不立即随之回撤，而是等粗逼近马达回撤到把绳子拉直后才由绳子拖着回撤。本发明能阻止粗逼近马达的不稳定性如热漂移、机械振动等传到扫描结构中，大大改善成像质量、减少畸变，尤适于变温变场等环境剧变的情况。
- 界面势垒测量装置及测量界面势垒的方法-201110416217.7
- 樊英民;钟海舰;徐耿钊;刘争晖;曾雄辉;周桃飞;邱永鑫;王建峰;徐科 - 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
- 2011-12-14 - 2012-06-27 - G01Q60/00
- 本发明提供多层半导体材料界面势垒测量装置及测量多层半导体界面势垒方法，属于半导体测试领域，该半导体装置包括一真空腔、一导电样品台、一扫描探针显微镜、一金属气源产生装置和一聚焦离子束显微镜系统；并且在该方法中，对多层结构的半导体样品，可以利用该半导体装置的聚集离子显微镜系统进行部分表面剥离，再原位沉积电极，然后用扫描探针显微镜进行测量；本发明解决了现有技术中只能测量表层缺陷而无法测量多层异质界面缺陷的问题，本发明采用逐层解剖，逐层测量的方法，极大的提高了工作效率。
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