[发明专利]半导体封装及其方法有效
申请号: | 201410325271.4 | 申请日: | 2014-07-09 |
公开(公告)号: | CN104851815B | 公开(公告)日: | 2017-12-19 |
发明(设计)人: | 周世文 | 申请(专利权)人: | 南茂科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L23/495 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 徐洁晶 |
地址: | 中国台湾新竹县*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种半导体封装及其方法,该半导体封装包括一封装载体,一芯片、一薄膜、一第一屏蔽金属板以及一封装材料。其中封装载体,具有至少一导体部件;芯片具有一有源表面及对应的一芯片背面,芯片以背面贴附于封装载体上。其中有源表面具有至少一接点,接点以一导线与导体部件电性连接。薄膜则配置于有源表面上,且包覆部分导线。第一屏蔽金属板配置于薄膜上;封装材料包覆芯片、导线、至少部分封装载体、薄膜以及至少部分第一屏蔽金属板。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体封装,其特征在于,包括:一封装载体,具有至少一导体部件;一芯片,具有一有源表面及对应的一芯片背面,该芯片以该背面贴附于该封装载体上,其中该有源表面具有至少一接点,该接点以一导线与该导体部件电性连接;一薄膜,配置于该有源表面上,且包覆部分该导线;一第一屏蔽金属板,配置于该薄膜上;一第二屏蔽金属板配置于该芯片与该封装载体之间;以及一封装材料,包覆该芯片、该导线、至少部分该封装载体、该薄膜以及至少部分该第一屏蔽金属板与该第二屏蔽金属板;其中,该第一屏蔽金属板与该第二屏蔽金属板之面积皆大于该芯片,且该第一屏蔽金属板与该第二屏蔽金属板均完全覆盖该芯片;该第一屏蔽金属板与该薄膜边缘切齐。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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