[发明专利]半导体封装及其方法有效

专利信息
申请号: 201410325271.4 申请日: 2014-07-09
公开(公告)号: CN104851815B 公开(公告)日: 2017-12-19
发明(设计)人: 周世文 申请(专利权)人: 南茂科技股份有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L23/495
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司31100 代理人: 徐洁晶
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供一种半导体封装及其方法,该半导体封装包括一封装载体,一芯片、一薄膜、一第一屏蔽金属板以及一封装材料。其中封装载体,具有至少一导体部件;芯片具有一有源表面及对应的一芯片背面,芯片以背面贴附于封装载体上。其中有源表面具有至少一接点,接点以一导线与导体部件电性连接。薄膜则配置于有源表面上,且包覆部分导线。第一屏蔽金属板配置于薄膜上;封装材料包覆芯片、导线、至少部分封装载体、薄膜以及至少部分第一屏蔽金属板。
搜索关键词: 半导体 封装 及其 方法
【主权项】:
一种半导体封装,其特征在于,包括:一封装载体,具有至少一导体部件;一芯片,具有一有源表面及对应的一芯片背面,该芯片以该背面贴附于该封装载体上,其中该有源表面具有至少一接点,该接点以一导线与该导体部件电性连接;一薄膜,配置于该有源表面上,且包覆部分该导线;一第一屏蔽金属板,配置于该薄膜上;一第二屏蔽金属板配置于该芯片与该封装载体之间;以及一封装材料,包覆该芯片、该导线、至少部分该封装载体、该薄膜以及至少部分该第一屏蔽金属板与该第二屏蔽金属板;其中,该第一屏蔽金属板与该第二屏蔽金属板之面积皆大于该芯片,且该第一屏蔽金属板与该第二屏蔽金属板均完全覆盖该芯片;该第一屏蔽金属板与该薄膜边缘切齐。
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