[发明专利]一种带有散热结构的器件封装结构及制造方法在审
申请号: | 201410295040.3 | 申请日: | 2014-06-25 |
公开(公告)号: | CN104064532A | 公开(公告)日: | 2014-09-24 |
发明(设计)人: | 于中尧;郭学平 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所;华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/367;H01L21/56 |
代理公司: | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘杰 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种带有散热结构的器件封装结构及制造方法,通过在所述基板的第一面上设置所述芯片和所述限高凸点;所述散热板与所述基板的第一面、所述限高凸点、所述芯片形成第一空间;所述塑封树脂填充所述第一空间;所述限高凸点与所述散热板连接,使得所述基板的地电极与所述散热板通过所述限高凸点相连,形成电屏蔽,达到成本较低,散热性能好、接地性能好、信号屏蔽效果好的技术效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 带有 散热 结构 器件 封装 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种带有散热结构的器件封装结构,其特征在于,所述结构包括:芯片;基板,所述基板的第一面上设置有所述芯片;限高凸点,所述限高凸点设置于所述基板的第一面上;散热板,所述散热板设置于所述芯片和所述限高凸点上,且所述散热板与所述基板的第一面、所述限高凸点、所述芯片形成第一空间;所述限高凸点与所述散热板连接,使得所述基板的地电极与所述散热板通过所述限高凸点相连,形成电屏蔽;塑封树脂,所述塑封树脂填充所述第一空间。
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