[发明专利]一种开关及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201410013005.8 申请日: 2014-01-10
公开(公告)号: CN104779248B 公开(公告)日: 2018-07-17
发明(设计)人: 赵骞;张黎阳;龙华;程珍娟;唐东杰;郑瑞 申请(专利权)人: 国民技术股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L21/82;H01L21/02
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 何青瓦
地址: 518057 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种开关及其制造方法。该开关包括:基底;半导体层,形成在基底中,半导体层包括第一有源区域、第二有源区域和沟道区域,其中,沟道区域位于第一有源区域和第二有源区域之间;栅极,设置在沟道区域之上;第一金属层,设置在第一有源区域上并与第一有源区域电连接;第二金属层,设置在第二有源区域上并与第二有源区域电连接;其中,第一金属层和第二金属层分别与栅极至少部分重叠以形成寄生前馈电容。通过上述方式,本发明的开关节省了芯片面积并且降低了芯片成本。
搜索关键词: 源区域 沟道区域 第二金属层 第一金属层 半导体层 电连接 基底 前馈电容 芯片成本 寄生 制造 芯片
【主权项】:
1.一种开关,其特征在于,所述开关包括:基底;半导体层,形成在所述基底中,所述半导体层包括第一有源区域、第二有源区域和沟道区域,其中,所述沟道区域位于所述第一有源区域和所述第二有源区域之间;栅极,设置在所述沟道区域之上;第一金属层,设置在所述第一有源区域上并与所述第一有源区域电连接;第二金属层,设置在所述第二有源区域上并与所述第二有源区域电连接;其中,所述第一金属层和所述第二金属层分别与所述栅极至少部分重叠以形成寄生前馈电容。
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