[发明专利]封装结构及半导体工艺有效

专利信息
申请号: 201310418550.0 申请日: 2013-09-13
公开(公告)号: CN104465427B 公开(公告)日: 2018-08-03
发明(设计)人: 陈勇仁;丁一权;郑文吉 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L21/603 分类号: H01L21/603;H01L23/488
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陆勍
地址: 中国台湾高雄市*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明是关于一种封装结构及半导体工艺,封装结构包括:一第一基板、一第二基板、一晶粒、数个电性连接元件、至少一间隔元件及封胶。该晶粒位于该第一基板及该第二基板之间,该至少一间隔元件设置于该晶粒及该第二基板之间,且接触该晶粒及该第二基板。电性连接元件电性连接该第一基板及该第二基板。利用该至少一间隔元件支撑该第二基板,使该第一基板与该第二基板间具有一设定距离,该等电性连接元件不须使用高强度的材料,以节省材料成本。且该至少一间隔元件可控制该晶粒与该第二基板间的距离及间隔空间,使得封胶可顺利流入间隔空间,不会产生空气或空隙于该间隔空间,可提高产品良率。
搜索关键词: 第二基板 晶粒 第一基板 间隔元件 封装结构 间隔空间 电性连接元件 半导体工艺 封胶 产品良率 电性连接 节省材料 连接元件 可控制 等电 支撑
【主权项】:
1.一种封装结构,其特征在于,包括:一第一基板,具有一第一表面及数个第一导电接点,其中所述第一导电接点露出于该第一基板的该第一表面;一第二基板,具有一第二表面及数个第二导电接点,其中所述第二导电接点露出于该第二基板的该第二表面,该第二表面是面对该第一基板的该第一表面;一晶粒,位于该第一基板及该第二基板之间,其中该晶粒具有一第三表面,该第三表面是面对该第二基板的该第二表面,该第二表面及该第三表面之间具有一间隔空间;数个电性连接元件,位于该第一基板及该第二基板之间,且与所述第一导电接点及所述第二导电接点物理连结及电性连接;至少一间隔元件,设置于该间隔空间,为该间隔空间内的一第一部份,且接触该晶粒及该第二基板,该至少一间隔元件的总截面积小于该晶粒的该第三表面的面积的40%;及封胶,包覆该第一基板的部分第一表面及该第二基板的部分第二表面,其中该封胶的一部份为该间隔空间内的一第二部分。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日月光半导体制造股份有限公司,未经日月光半导体制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310418550.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top