[发明专利]雪崩光电二极管及其制造方法无效
申请号: | 201310168139.2 | 申请日: | 2013-05-09 |
公开(公告)号: | CN103390680A | 公开(公告)日: | 2013-11-13 |
发明(设计)人: | 竹村亮太;石村荣太郎 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L31/107 | 分类号: | H01L31/107;H01L31/0304;H01L31/0352;H01L31/18 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 毛立群;李浩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及雪崩光电二极管及其制造方法。得到一种能改善高速响应性并且能减少特性的随时间变化的雪崩光电二极管。在n型InP衬底(1)上依次层叠有AlInAs雪崩倍增层(3)、p型AlInAs电场控制层(4)、未掺杂光吸收层(5)以及窗层(6)。在窗层(6)和未掺杂光吸收层(5)的一部分设置有p型区域(7)。使用碳作为p型AlInAs电场控制层(4)的掺杂物。使用Zn作为p型区域(7)的掺杂物。P型区域(7)的底面比未掺杂光吸收层(5)与窗层(6)的界面位于下方。 | ||
搜索关键词: | 雪崩 光电二极管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种雪崩光电二极管,其特征在于,具备:衬底;在所述衬底上依次层叠的雪崩倍增层、p型的电场控制层、光吸收层和窗层;以及p型区域,设置在所述窗层和所述光吸收层的一部分,使用碳作为所述电场控制层的掺杂物,使用Zn作为所述p型区域的掺杂物,所述p型区域的底面比所述光吸收层与所述窗层的界面位于下方。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的