[发明专利]雪崩光电二极管及其制造方法无效
申请号: | 201310168139.2 | 申请日: | 2013-05-09 |
公开(公告)号: | CN103390680A | 公开(公告)日: | 2013-11-13 |
发明(设计)人: | 竹村亮太;石村荣太郎 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L31/107 | 分类号: | H01L31/107;H01L31/0304;H01L31/0352;H01L31/18 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 毛立群;李浩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 雪崩 光电二极管 及其 制造 方法 | ||
1.一种雪崩光电二极管,其特征在于,具备:
衬底;
在所述衬底上依次层叠的雪崩倍增层、p型的电场控制层、光吸收层和窗层;以及
p型区域,设置在所述窗层和所述光吸收层的一部分,
使用碳作为所述电场控制层的掺杂物,
使用Zn作为所述p型区域的掺杂物,
所述p型区域的底面比所述光吸收层与所述窗层的界面位于下方。
2.根据权利要求1所述的雪崩光电二极管,其特征在于,所述电场控制层的杂质浓度为2×1017cm-3以上且2×1018cm-3以下。
3.根据权利要求1或2所述的雪崩光电二极管,其特征在于,还具备:埋入半导体层,埋入所述光吸收层的侧面,具有比所述光吸收层宽的带隙。
4.一种雪崩光电二极管的制造方法,其特征在于,具备:
在衬底上依次形成倍增层、p型的电场控制层、光吸收层和窗层的工序;以及
在所述窗层和所述光吸收层的一部分利用Zn的固相扩散形成p型区域的工序,
使用碳作为所述电场控制层的掺杂物,
所述p型区域的底面比所述光吸收层与所述窗层的界面位于下方。
5.根据权利要求4所述的雪崩光电二极管的制造方法,其特征在于,使所述Zn的固相扩散时的温度比540℃高。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的