[发明专利]雪崩光电二极管及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201310168139.2 申请日: 2013-05-09
公开(公告)号: CN103390680A 公开(公告)日: 2013-11-13
发明(设计)人: 竹村亮太;石村荣太郎 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L31/107 分类号: H01L31/107;H01L31/0304;H01L31/0352;H01L31/18
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 毛立群;李浩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 雪崩 光电二极管 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种雪崩光电二极管,其特征在于,具备:

衬底;

在所述衬底上依次层叠的雪崩倍增层、p型的电场控制层、光吸收层和窗层;以及

p型区域,设置在所述窗层和所述光吸收层的一部分,

使用碳作为所述电场控制层的掺杂物,

使用Zn作为所述p型区域的掺杂物,

所述p型区域的底面比所述光吸收层与所述窗层的界面位于下方。

2.根据权利要求1所述的雪崩光电二极管,其特征在于,所述电场控制层的杂质浓度为2×1017cm-3以上且2×1018cm-3以下。

3.根据权利要求1或2所述的雪崩光电二极管,其特征在于,还具备:埋入半导体层,埋入所述光吸收层的侧面,具有比所述光吸收层宽的带隙。

4.一种雪崩光电二极管的制造方法,其特征在于,具备:

在衬底上依次形成倍增层、p型的电场控制层、光吸收层和窗层的工序;以及

在所述窗层和所述光吸收层的一部分利用Zn的固相扩散形成p型区域的工序,

使用碳作为所述电场控制层的掺杂物,

所述p型区域的底面比所述光吸收层与所述窗层的界面位于下方。

5.根据权利要求4所述的雪崩光电二极管的制造方法,其特征在于,使所述Zn的固相扩散时的温度比540℃高。

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