[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201310014810.8 申请日: 2013-01-16
公开(公告)号: CN103219313A 公开(公告)日: 2013-07-24
发明(设计)人: 岩村英之;落合公 申请(专利权)人: 半导体元件工业有限责任公司
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495;H01L25/16
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 岳雪兰
地址: 美国亚*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供一种半导体装置。在现有的半导体装置中,存在难以防止芯片之间发生短路且难以提高控制用半导体芯片的温度检测精度的问题。在本发明的半导体装置中,分开形成固定安装驱动用半导体芯片(14)的第一搭载区域(8)与固定安装控制用半导体芯片(15)的第二搭载区域(9),而且在第一搭载区域(8)形成突出区域(8a),该突出区域(8a)向第二搭载区域(9)侧延伸,第二半导体芯片(15)经由绝缘性粘接片材(16)固定安装在突出区域(8a)及第二搭载区域(9)的上表面。通过该结构,能够防止两芯片之间发生短路,能够提高控制用半导体芯片的温度检测精度。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于,具有:第一搭载区域;配置在所述第一搭载区域的附近且与所述第一搭载区域分开形成的第二搭载区域;配置在所述第一搭载区域及所述第二搭载区域的附近的引线;固定安装在所述第一搭载区域上的第一半导体芯片;固定安装在所述第一搭载区域及所述第二搭载区域上并控制所述第一半导体芯片的第二半导体芯片;以及覆盖所述第一搭载区域及所述第二搭载区域、所述引线、所述第一半导体芯片及所述第二半导体芯片的树脂密封体;在所述第一搭载区域形成有向所述第二搭载区域侧突出的突出区域;所述第二半导体芯片经由绝缘性粘接片材固定安装在所述第一搭载区域及所述第二搭载区域上,以使在所述第二半导体芯片下方至少配置有所述突出区域的一部分。
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