[发明专利]异物除去装置、异物除去方法有效
申请号: | 201210502574.X | 申请日: | 2012-11-30 |
公开(公告)号: | CN103227124A | 公开(公告)日: | 2013-07-31 |
发明(设计)人: | 冈田章;野口贵也;秋山肇 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 闫小龙;李浩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的在于提供一种能除去半导体芯片的侧面和背面的异物的异物除去装置、异物除去方法。本申请发明的异物除去装置具备:夹具,具有形成有贯通孔的板和以能个别地收容多个半导体芯片的方式形成在该板上的框;异物吸附构件,具有第一带电部和第二带电部,该第一带电部具有第一平坦面,该第二带电部与该第一带电部绝缘并具有与该第一平坦面构成一个平面的第二平坦面;带电单元,使该第一平坦面带电为正,使该第二平坦面带电为负;滑动单元,使该夹具的该贯通孔和该第一平坦面以及该第二平坦面空开一定间隔并且对置,使该夹具和该异物吸附构件的一方相对于另一方滑动,该贯通孔形成在该框隔开的每一个区域。 | ||
搜索关键词: | 异物 除去 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种异物除去装置,其特征在于,具备:夹具,具有形成有贯通孔的板和以能个别地收容多个半导体芯片的方式形成在所述板上的框;异物吸附构件,具有:具有第一平坦面的第一带电部;与所述第一带电部绝缘并且具有与所述第一平坦面构成一个平面的第二平坦面的第二带电部;带电单元,使所述第一平坦面带电为正,使所述第二平坦面带电为负;以及滑动单元,使所述夹具的所述贯通孔和所述第一平坦面以及所述第二平坦面空开一定间隔并且对置,使所述夹具和所述异物吸附构件的一方相对于另一方滑动,所述贯通孔形成在所述框隔开的每一个区域。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造