[发明专利]一种导电沟道制作方法有效

专利信息
申请号: 201210361835.0 申请日: 2012-09-25
公开(公告)号: CN103681342A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 赵猛 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 牛峥;王丽琴
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请公开了一种导电沟道制作方法,在半导体基体中形成延伸到源极和漏极之中的Σ型导电沟道,一方面,Σ型导电沟道中多步外延生长锗化硅或碳化硅,另一方面,Σ型导电沟道边缘的非硅元素掺杂浓度小于中部的非硅元素掺杂浓度,从而通过渐变的非硅元素掺杂浓度,降低源漏极与导电沟道界面处的晶格适配形成了异质结,增大了导电沟道中的应力,两者都提高载流子的迁移率。
搜索关键词: 一种 导电 沟道 制作方法
【主权项】:
一种导电沟道制作方法,应用于金属氧化物半导体场效应晶体管制作,该方法包括:提供一半导体基体,所述半导体基体上具有虚拟栅极和环绕所述虚拟栅极的侧墙,以所述虚拟栅极和侧墙为遮蔽,在所述半导体基体中形成源极和漏极;在所述半导体基体上沉积介质层,所述介质层覆盖所述虚拟栅极、侧墙以及源极和漏极表面;化学机械研磨所述介质层直到露出所述虚拟栅极表面;刻蚀去除所述虚拟栅极形成栅极窗口;栅极窗口中刻蚀硅衬底形成Σ型沟槽,所述Σ型沟槽的两边侧壁分别延伸至所述源极和漏极中;在所述Σ型沟槽中填充硅化物形成Σ型导电沟道。
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