[发明专利]一种导电沟道制作方法有效
申请号: | 201210361835.0 | 申请日: | 2012-09-25 |
公开(公告)号: | CN103681342A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 赵猛 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 牛峥;王丽琴 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本申请公开了一种导电沟道制作方法,在半导体基体中形成延伸到源极和漏极之中的Σ型导电沟道,一方面,Σ型导电沟道中多步外延生长锗化硅或碳化硅,另一方面,Σ型导电沟道边缘的非硅元素掺杂浓度小于中部的非硅元素掺杂浓度,从而通过渐变的非硅元素掺杂浓度,降低源漏极与导电沟道界面处的晶格适配形成了异质结,增大了导电沟道中的应力,两者都提高载流子的迁移率。 | ||
搜索关键词: | 一种 导电 沟道 制作方法 | ||
【主权项】:
一种导电沟道制作方法,应用于金属氧化物半导体场效应晶体管制作,该方法包括:提供一半导体基体,所述半导体基体上具有虚拟栅极和环绕所述虚拟栅极的侧墙,以所述虚拟栅极和侧墙为遮蔽,在所述半导体基体中形成源极和漏极;在所述半导体基体上沉积介质层,所述介质层覆盖所述虚拟栅极、侧墙以及源极和漏极表面;化学机械研磨所述介质层直到露出所述虚拟栅极表面;刻蚀去除所述虚拟栅极形成栅极窗口;栅极窗口中刻蚀硅衬底形成Σ型沟槽,所述Σ型沟槽的两边侧壁分别延伸至所述源极和漏极中;在所述Σ型沟槽中填充硅化物形成Σ型导电沟道。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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