[发明专利]光电半导体芯片和用于制造光电半导体芯片的方法有效

专利信息
申请号: 201080060293.2 申请日: 2010-12-23
公开(公告)号: CN102687291A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 赖纳·布滕戴奇;亚历山大·沃尔特;马蒂亚斯·彼得;托比亚斯·迈耶;泷哲也;胡贝特·迈瓦尔德 申请(专利权)人: 欧司朗光电半导体有限公司
主分类号: H01L33/24 分类号: H01L33/24;H01L33/02
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张春水;田军锋
地址: 德国雷*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明说明了一种光电半导体芯片(100),其具有第一半导体层序列(1)和第二半导体层序列(2),所述第一半导体层序列包括多个微型二极管(11),所述第二半导体层序列包括有源区(12),其中,第一半导体层序列(1)和第二半导体层序列(2)基于氮化物-化合物半导体材料,所述第一半导体层序列(1)在生长方向上位于第二半导体层序列(2)之前,并且所述微型二极管(11)形成对有源区(12)的ESD(静电放电)保护。
搜索关键词: 光电 半导体 芯片 用于 制造 方法
【主权项】:
光电半导体芯片(100),具有:‑第一半导体层序列(1),所述第一半导体层序列包括多个微型二极管(11);和‑第二半导体层序列(2),所述第二半导体层序列包括有源区(12),其中‑所述第一半导体层序列(1)和所述第二半导体层序列(2)基于氮化物‑化合物半导体材料,‑所述第一半导体层序列(1)在生长方向上位于所述第二半导体层序列(2)之前,‑所述微型二极管(11)形成对所述有源区(12)的静电放电保护,并且‑所述微型二极管(11)中的大部分具有同种的电学性质,尤其同种的击穿特性。
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