[发明专利]图形化GaN衬底的制备方法有效

专利信息
申请号: 201010617750.5 申请日: 2010-12-31
公开(公告)号: CN102142487A 公开(公告)日: 2011-08-03
发明(设计)人: 张国义;孙永健;贾传宇;陆羽;刘鹏;付星星;杨志坚;童玉珍;廉宗禺 申请(专利权)人: 东莞市中镓半导体科技有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/32;H01L21/02
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 谭一兵
地址: 523500 *** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种在GaN衬底上制备图形的方法,可以大幅度提高LED芯片的内量子效率、出光效率和热导率。本发明在衬底GaN表面层,使用微纳米图形的掩膜、光刻技术、纳米压印技术或氧化铝图形转移技术生成图形模板,然后使用图形刻蚀技术,制备出能够实现稳定的微米及亚微米量级的有利于出光的图形结构。本发明的衬底可以大幅度提高LED芯片的出光效率和热导率,具有更优良的性能。
搜索关键词: 图形 gan 衬底 制备 方法
【主权项】:
一种图形化GaN衬底的制备方法,是在氮化镓衬底上制备出微纳米图形,作为生长衬底,其特征在于,所述方法包括如下步骤:①、提供一衬底,所述衬底是GaN单晶衬底,或是GaN/Al2O3、GaN/Si、GaN/SiC复合衬底,复合衬底的表面层是GaN面,清理后备用;②、在GaN表面层,使用微纳米图形的掩膜、光刻技术、纳米压印技术或氧化铝AAO图形转移技术生成图形;③、然后使用图形刻蚀技术,采用干法刻蚀ICP技术或湿法刻蚀技术,获得所需图形结构。
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