[发明专利]功率金属氧化物半导体场效应晶体管封装体有效
申请号: | 201010154381.0 | 申请日: | 2010-04-21 |
公开(公告)号: | CN101887915A | 公开(公告)日: | 2010-11-17 |
发明(设计)人: | 彭宝庆;温英男;张恕铭;倪庆羽;谢昀叡;陈伟铭;蔡佳伦;郑家明 | 申请(专利权)人: | 精材科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L23/52;H01L23/482 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;王璐 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种功率金属氧化物半导体场效应晶体管封装体,包括:半导体基底,具有第一表面及相反的第二表面,导电型为第一导电型,且半导体基底形成漏极区;掺杂区,自第一表面向下延伸,导电型为第二导电型;源极区,位于掺杂区中,导电型为第一导电型;栅极,形成于第一表面上或埋于该第一表面内,且与半导体基底之间隔有栅极介电层;第一导电结构,位于半导体基底之上,具有第一端点,且与漏极区电性连接;第二导电结构,位于半导体基底之上,具有第二端点,且与源极区电性连接;第三导电结构,位于半导体基底之上,具有第三端点,且与栅极电性连接,其中第一端点、第二端点及第三端点大抵共平面。 | ||
搜索关键词: | 功率 金属 氧化物 半导体 场效应 晶体管 封装 | ||
【主权项】:
一种功率金属氧化物半导体场效应晶体管封装体,其特征在于,包括:一半导体基底,具有一第一表面及一与该第一表面相反的第二表面,该半导体基底的导电型为一第一导电型,且该半导体基底形成一漏极区;一掺杂区,自该第一表面向下延伸,该掺杂区的导电型为一第二导电型;一源极区,位于该掺杂区中,该源极区的导电型为该第一导电型;一栅极,形成于该第一表面上或埋于该第一表面内,且与该半导体基底之间隔有一栅极介电层;一第一导电结构,位于该半导体基底之上,该第一导电结构具有一第一端点,且与该漏极区电性连接;一第二导电结构,位于该半导体基底之上,该第二导电结构具有一第二端点,且与该源极区电性连接;一第三导电结构,位于该半导体基底之上,该第三导电结构具有一第三端点,且与该栅极电性连接,其中该第一端点、该第二端点及该第三端点共平面;以及一保护层,位于该半导体基底与该第一端点、该第二端点、及该第三端点之间。
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