[发明专利]特性阻抗测试系统及方法无效
申请号: | 200910301998.8 | 申请日: | 2009-04-30 |
公开(公告)号: | CN101876674A | 公开(公告)日: | 2010-11-03 |
发明(设计)人: | 梁献全;李昇军;陈永杰;许寿国 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种特性阻抗测试方法,包括如下步骤:设置测试文档;获取待测零件的位置;将时域反射仪的探针定位到印刷电路板上待测零件的位置;获取待测零件的特性阻抗;对待测零件的特性阻抗进行分析;生成测试报告并存储。本发明还提供一种特性阻抗测试系统。利用本发明可以自动测试印刷电路板上零件的特性阻抗。 | ||
搜索关键词: | 特性 阻抗 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种特性阻抗测试系统,运行于测试电脑中,该测试电脑通过交换机与控制电脑和时域反射仪相连,其特征在于,该系统包括:文档设置模块,用于设置不同类型的印刷电路板的测试文档,所述测试文档包括:待测零件在印刷电路板中的坐标位置、待测零件特性阻抗的标准值及测试结果存储路径;参数获取模块,用于当测试开始时,从所述测试文档中获取待测零件在印刷电路板中的坐标位置;探针定位模块,用于根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置向控制电脑发出探针定位指令,由该控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将时域反射仪的探针定位到印刷电路板上的待测零件;所述探针定位模块,还用于判断探针定位是否准确;所述测试电脑还包括:信号测试模块,用于当探针定位准确时,获取时域反射仪采集到的待测零件的特性阻抗;所述信号测试模块,还用于根据设定的待测零件特性阻抗的标准值对待测零件的特性阻抗进行分析,以判断待测零件的特性阻抗是否在设定的标准值范围内;及所述信号测试模块,还用于生成测试报告,并将该测试报告存储在设定的测试结果存储路径中。
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